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Muret, Pierre

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Most widely held works by Pierre Muret
Rites of funeral ancient and modern by Pierre Muret( )

1 edition published in 1683 in English and held by 10 WorldCat member libraries worldwide

Etude des états localisés aux interfaces métal-silicium by Pierre Muret( Book )

2 editions published in 1985 in French and held by 5 WorldCat member libraries worldwide

L'affaire des princes possessionnés d'Alsace et les origines du conflit entre la rèvolution et l'empire by Pierre Muret( Book )

5 editions published between 1899 and 1900 in French and held by 5 WorldCat member libraries worldwide

Émile Ollivier et le duc de Gramont les 12 et 13 juillet 1870 by Pierre Muret( Book )

2 editions published in 1910 in French and held by 4 WorldCat member libraries worldwide

Rites of Funeral ancient and modern ... Translated ... by P. Lorrain by Pierre Muret( Book )

2 editions published in 1683 in Undetermined and English and held by 3 WorldCat member libraries worldwide

Rites of funeral by Pierre Muret( Book )

2 editions published in 1683 in English and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

L'affaire des princes possessionnés d'Alsace et l'origine du conflit entre la Révolution et l'Empire by Pierre Muret( Book )

in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Etude critique sur "Bonaparte et le Directoire" par Albert Sorel by Raymond Guyot( Book )

in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

Etude des surfaces de diamant homoépitaxié dopé au bore et de quelques interfaces métal/diamant by Christophe Saby( Book )

1 edition published in 2001 in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

En vue de la réalisation de diodes Schottky, sur des couches de diamant homoépitaxié par dépôt chimique en phase vapeur et dopé au bore, fonctionnant à haute température(>400ʻC), nous avons étudié les propriétés électroniques des différentes terminaisons de surfaces (100) de nos films de diamants : hydrogénée, sans hydrogène et oxygénée, puis nous avons formé et caractérisé plusieurs types de contact métallique (Er, ErSi 1.7 et Ag/Ti) sur ces différentes surfaces. Les surfaces sont analysées par spectroscopie de photoélectrons (UPS, XPS) et diffraction d'électrons lents. Les contacts sont étudiés durant leur formation par UPS et XPS, puis ils sont carctérisés ex-situ par des mesures électriques et photoélectriques, et pour certains par diffraction de rayons X en incidence rasante, spectroscopie Raman et AFM
La Révolution française et les Princes allemands possessionnés en Alsace by Pierre Muret( Book )

1 edition published in 1900 in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

Pierre Muret. L'Affaire des princes possessionnés d'Alsace et les origines du conflit entre la Révolution et l'Empire by Pierre Muret( Book )

in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

Cerimonie funebri di tutte le nazioni del mondo : Trattatu ... tradotto dalla lingua françese by Pierre Muret( Book )

1 edition published in 1722 in Italian and held by 1 WorldCat member library worldwide

Cerimonie funebri di tutte le nazioni del mondo : trattato by Pierre Muret( Book )

1 edition published in 1727 in Italian and held by 1 WorldCat member library worldwide

Diss. sur les festins des anciens Grecs et Romains et sur les cérémonies qui s'y pratiquoient by Pierre Muret( Book )

1 edition published in 1715 in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

REALISATION D'UN ENSEMBLE AUTOMATISE DE MESURES D'ADMITTANCE : APPLICATION A L'ETUDE DES DIODES SCHOTTKY AL/ASGA ET YSI#1#,#7#/#S#I by DRISS ELGUENNOUNI( Book )

1 edition published in 1989 in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

LA COMPREHENSION DE LA STRUCTURE METAL-SEMICONDUCTEUR FAIT L'OBJET DE NOMBREUSES ETUDES, DEPUIS LONGTEMPS, TANT SUR LE PLAN THEORIQUE QU'EXPERIMENTAL. LE MEMOIRE PRESENCE L'ETUDE DE LA DIODE SCHOTTKY M/SC PAR MESURE D'ADMITTANCE PRINCIPALEMENT SOUS POLARISATION DIRECTE POUR DETERMINER ET COMPARER LES DISTRIBUTIONS D'ETATS D'INTERFACE OBTENUES POUR QUELQUE SYSTEME TYPIQUE. EN PARTICULIER, LES MESURES D'ADMITTANCES SONT ETENDUES ICI POUR LA PREMIERE FOIS JUSQU'A 0,1 HZ. LE TRAVAIL EST DIVISE EN TROIS PARTIES: LA PREMIERE PARTIE DONNE LES PRINCIPES ET DECRIT LES CARACTERISTIQUES D'UN ENSEMBLE AUTOMATISE CONSTRUIT AU COURS DE CETTE THESE PERMETTANT LA MESURE ET L'ADMITTANCE JUSQU'A 0,1 HZ (RC10##4); LA DEUXIEME PARTIE EST UNE ANALYSE THEORIQUE. D'UNE PART, DE L'EFFET DES ETATS D'INTERFACE, SUR LA CAPACITE ET LA CONDUCTANCE DE LA DIODE EN FONCTION DE LA POLARISATION, LA FREQUENCE ET LA TEMPERATURE. D'AUTRE PART, DES PHENOMENES DE TRANSPORT SOUS POLARISATION DIRECTE, EN TENANT COMPTE DES PORTEURS ET MAJORITAIRES DANS LA ZONE QUASINEUTRE; LA TROISIEME PARTIE EST LA SYNTHESE DES RESULTATS EXPERIMENTAUX, METTANT EN EVIDENCE LA VARIATION DES CARACTERISTIQUES DES ETATS D'INTERFACE EN FONCTION DU MODE DE PREPARATION DE LA SURFACE DU SEMICONDUCTEUR AVANT LE DEPOT DU METAL, ET EXPLIQUANT LE COMPORTEMENT INDUCTIF DE LA STRUCTURE SOUS POLARISATION DIRECTE
La Politique personnelle de Rouvier et la Chute de Delcasse (31 Mars-6 Juin 1905) by Pierre Muret( Book )

1 edition published in 1939 in French and held by 1 WorldCat member library worldwide

Biblia( Book )

in Latin and held by 1 WorldCat member library worldwide

 
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