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Joseph, Jacques 1865-1934

Overview
Works: 37 works in 71 publications in 3 languages and 307 library holdings
Genres: Case studies 
Roles: Correspondent
Classifications: TK9203.P7, 621.4834
Publication Timeline
Key
Publications about  Jacques Joseph Publications about Jacques Joseph
Publications by  Jacques Joseph Publications by Jacques Joseph
posthumous Publications by Jacques Joseph, published posthumously.
Most widely held works about Jacques Joseph
 
Most widely held works by Jacques Joseph
Rhinoplasty and facial plastic surgery with a supplement on mammaplasty and other operations in the field of plastic surgery of the body : an atlas and textbook by Jacques Joseph ( Book )
2 editions published in 1987 in English and held by 53 WorldCat member libraries worldwide
Nasenplastik und sonstige Gesichtsplastik, nebt einem Anhang über Mammaplastik und einige weitere Operationen aus dem Gebiete der äusseren Körperplastik; ein Atlas und Lehrbuch by Jacques Joseph ( Book )
16 editions published between 1931 and 2004 in German and Undetermined and held by 53 WorldCat member libraries worldwide
La chaudière des réacteurs à eau sous pression by Pierre Coppolani ( Book )
2 editions published in 2004 in French and English and held by 41 WorldCat member libraries worldwide
The objective of this work is to deal with questions concerning the creation and operations of the pressurized water reactors that are part of the facilities of the nuclear power plants. It is intended for the future engineers of nuclear industry
L'absorption des muons par les noyaux by Jacques Joseph ( Book )
4 editions published in 1973 in French and held by 10 WorldCat member libraries worldwide
L'ETUDE DE CE PHENOMENE PEUT PERMETTRE DE TESTER CERTAINES HYPOTHESES DE LA THEORIE DES INTERACTIONS FAIBLES OU D'EVALUER CERTAINES CONSTANTES DE COUPLAGE. APPLICATION A L'INTERPRETATION DES ETATS EXCITES ET DES SPECTRES DE NEUTRON DANS 2 NOYAUX.: **(16)O ET **(40)CA
Die Kriegsverletzungen der Kiefer und der angrenzenden Teile : ein kurzgefasstes Lehrbuch für Zahnärzte und Ärzte zum Gebrauch im Felde und in der Heimat by Julius Misch ( Book )
1 edition published in 1916 in German and held by 5 WorldCat member libraries worldwide
Etude de la photoluminescence du silicium nanocristallin Application astrophysique à l'émission rouge étendue by Gilles Ledoux ( Book )
2 editions published between 1999 and 2010 in French and held by 3 WorldCat member libraries worldwide
Depuis bientôt vingt ans, les astronomes cherchent à expliquer une signature spectrale située à la limite entre le visible et l'infrarouge, et détectée dans les nuages de poussières interstellaires et circumstellaires. Cette bande appelée Emission Rouge Etendue ou ERE est attribuée à la photoluminescence (PL) d'une composante du milieu interstellaire. Encore faut-il trouver un matériau compatible avec les abondances universelles et présentant cette photoluminescence. Pour ce faire nous avons monté une expérience destinée à mesurer les spectres de photoluminescence et surtout les rendements externes absolus et le comportement temporel de cette PL. Grâce à celle-ci nous avons pu caractériser un grand nombre de matériau à base de carbone et de silicium et un candidat très prometteur est apparu : des nanocristaux de silicium. Ces nanocristaux sont fabriqués par pyrolyse laser de Silane dans un réacteur en flux puis déposés à basse énergie après une sélection mécanique de leurs vitesses. Différents paramètres influençant la PL ont été étudiés comme par exemple la taille moyenne des particules, (sur la gamme ~2.5-7nm), la dispersion de leurs distributions de taille, la température et la quantité d'énergie incidente. Ces mesures montrent que la PL de tels nanocristaux suit très bien le modèle du confinement quantique. Leurs rendements de PL externe sont très élevés (jusqu'à 18%). De plus grâce à une étude poussée, par microscopie à force atomique (AFM), de la distribution de taille nous avons pu montrer que les rendements intrinsèques de ces nanocristaux peuvent atteindre près de 100%. Tous ces résultats ont permis de développer un modèle théorique simple de la PL des nanocristaux de silicium. Ces résultats ont été appliqués à l'interprétation physico-chimique de la spectroscopie de l'ERE. Nous avons pu démontrer que toutes les caractéristiques observées de l'ERE (position du pic, largeur et intensité) ainsi que leurs variations d'un objet à l'autre ou dans un même objet peuvent être bien reproduites par le comportement de la PL de ces nanocristaux. Pour finir, il est montré que seulement 2% du volume des grains de poussière interstellaire doit être sous forme de nanocristaux de silicium afin d'expliquer l'Emission Rouge Etendue Ceci démontre que les effets de taille jouent un rôle essentiel pour la compréhension de ce phénomène astrophysique
Etude de l'utilisation des oxydes minces sur le phosphure d'indium pour la réalisation de composants électroniques by Pascal Louis ( Book )
1 edition published in 1992 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
LE PHOSPHURE D'INDIUM (INP) EST UN MATERIAU PARTICULIEREMENT BIEN ADAPTE A LA REALISATION DE COMPOSANTS ELECTRONIQUES AYANT DE GRANDES PERFORMANCES EN PARTICULIER LES TRANSISTORS MESFET (METAL SEMICONDUCTOR FIELD EFFECT TRANSISTOR). LE FONCTIONNEMENT DE TELS COMPOSANTS NECESSITE UNE AUGMENTATION DE LA HAUTEUR DE BARRIERE METAL/SEMICONDUCTEUR QUI PEUT ETRE OBTENUE PAR L'AJOUT D'UN OXYDE ENTRE LE METAL ET LE SEMICONDUCTEUR. DANS CE BUT, DEUX TYPES D'OXYDATION ONT ETE TESTEES: L'OXYDATION ELECTROCHIMIQUE (AVEC DES ELECTROLYTES A BASE D'EAU ULTRA-PURE OU DE METHANOL), ET L'OXYDATION ASSISTEE PAR RAYONNEMENT ULTRAVIOLET. ELLES CONDUISENT TOUTES DEUX A LA FORMATION D'UNE COUCHE MINCE (20 A-150 A) MAIS DE COMPOSITIONS DIFFERENTES (RESPECTIVEMENT IN(PO#3)#3, INPO#4). LA STRUCTURE DE TEST ELECTRIQUE EST UNE DIODE SCHOTTKY OR/INP DONT LES PERFORMANCES ELECTRIQUES SONT INTERPRETEES SUIVANT LE MODELE THERMOIONIQUE. NOUS AVONS MONTRE QU'UNE COUCHE INTERFACIALE D'OXYDE AUGMENTE SUFFISAMMENT LA HAUTEUR DE BARRIERE (0,7-0,8 EV) POUR PERMETTRE LA REALISATION DE COMPOSANTS MESFET. MAIS SUIVANT LES CONDITIONS D'ELABORATION, LES PERFORMANCES DIFFERENT. EN PRESENCE D'EAU, LES DEUX METHODES D'OXYDATION, CONDUISENT A UNE DETERIORATION DES PROPRIETES ELECTRIQUES ET LES DIODES PRESENTENT UNE FORTE DERIVE DU COURANT, DANS LE TEMPS. CETTE INSTABILITE EST A RELIER A LA PRESENCE DE DEFAUTS DANS L'OXYDE QUI PIEGENT DES ELECTRONS. SOUS POLARISATION LEUR CHARGE EVOLUE EN MODIFIANT LE COURANT. UNE METHODE ORIGINALE, DE MESURE DE BRUITS ELECTRIQUES CONFIRME CE RESULTAT. A L'AIDE DE L'OXYDATION ASSISTEE PAR LES ULTRAVIOLETS OU DE L'OXYDATION ANODIQUE, NOUS OBTENONS SOUS CERTAINES CONDITIONS D'ELABORATION UNE TRES GRANDE STABILITE DES DIODES CE QUI N'ETAIT HABITUELLEMENT PAS LE CAS POUR LES DISPOSITIFS SUR INP. LES DIODES DE TEST ONT UNE FORTE HAUTEUR DE BARRIERE (PLUS DE 0,7 EV) ET UN FAIBLE COEFFICIENT D'IDEALITE. DE TELS OXYDES DOIVENT PERMETTRE LE FONCTIONNEMENT DE MESFET
Eine Nasenplastik : ausgeführt in Lokalanaesthesie by Jacques Joseph ( Book )
2 editions published in 1927 in German and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
L'absorption des muons par les noyaux by Jacques Joseph ( Book )
2 editions published in 1973 in Undetermined and French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
Elaboration et caractérisation de couches diélectriques pour l'optique by Anne-Ségolène Callard ( )
2 editions published between 1996 and 2010 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
Ce travail porte sur la fabrication et la caractérisation des couches minces diélectriques pour l'optique. Les matériaux utilisés sont la silice, le nitrure de silicium et les oxynitrures de silicium. Les couches sont élaborées par dépôt chimique en phase vapeur active par plasma micro-onde (pecvd-ecr). Les dépôts sont contrôlés pendant leur croissance par ellipsométrie. Trois points ont été principalement développés: le premier d'entre eux est consacré à la fabrication de miroirs de bragg constitués de couches alternées de silice et de nitrure de silicium. Une méthode originale et simple de contrôle des épaisseurs de films par ellipsométrie in situ est présentée. Les mesures de réflectométrie sur les miroirs montrent que la méthode de contrôle in situ permet d'obtenir une grande précision sur les épaisseurs et les indices des différentes couches. Le deuxième est consacré à l'étude de la fabrication de films d'oxynitrure dont l'indice optique varie continûment avec l'épaisseur. Après l'examen de la variation de l'indice des couches en fonction des paramètres de dépôt, la méthode d'élaboration est présentée. Des films présentant des profils d'indice linéaire et parabolique ont été déposés sur du silicium et sur du verre. Le dernier point porte sur la caractérisation des films à gradient d'indice. On montre que la mesure d'un seul spectre ellipsométrique sur la couche permet d'obtenir la forme du profil. Une analyse en profondeur par gravure chimique permet de valider ces résultats
Microsources photoniques à base de nanocristaux de silicium by David Amans ( )
2 editions published between 2002 and 2010 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
L'étude intitulée "microsources photoniques à base de nanocristaux de silicium" porte sur l'utilisation du silicium comme matériau actif dans une source de lumière. On cherche donc à déterminer si le silicium, omniprésent dans l'industrie de l'électronique, peut également être utilisé dans l'optoélectronique. Notre but est alors de réaliser une source utilisant comme matériau émetteur des nanocristaux de silicium. Ce sont des grains de silicium monocristallins, sphériques et d'un diamètre compris entre 3 nm et 7.5 nm. Leur émission dans le visible est interprétée dans le cadre du confinement quantique. Les nanocristaux sont placés dans une cavité résonante formée par deux miroirs de Bragg. Les miroirs de Bragg sont composés de matériaux diélectriques: SiO2 et TiO2. La cavité plane ainsi constituée est le dispositif le plus couramment utilisé pour la réalisation de laser. Ce travail comporte quatre parties distinctes. La première partie concerne l'étude des propriétés intrinsèques des nanocristaux de silicium en couche mince: indices optiques et propriétés de photoluminescence. Dans une seconde partie, nous avons étudié les miroirs de Bragg et les cavités planes afin d'optimiser nos sources pour l'émission verticale. La troisième partie décrit la réalisation et la caractérisation en photoluminescence des sources. On a notamment observé la modification de l'émission spontanée induite par la cavité, à partir de mesures de temps de vie de photoluminescence. La réalisation et la caractérisation des cavités planes présentant une direction de confinement étant concluante, nous avons étudié les structures autorisants le confinement de la lumière selon 2 directions puis 3 directions. Dans la quatrième partie, nous exposons donc l'étude préliminaire traitant du confinement de la lumière au sein d'un dépôt de nanocristaux arrangé en cristal photonique 2D. Nous avons réalisé des dépôts structurés et nous avons calculé la structure de bande photonique correspondant à la morphologie idéal du cristal photonique 2D
Contribution à l'étude du système Si-Sio2 comme capteur PH by Jean-Luc Diot ( Book )
1 edition published in 1984 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
L'OBJET DU TRAVAIL EST LA FABRICATION ET L'ETUDE D'ELECTRODES DE SILICIUM OXYDE EN VUE DE L'UTILISATION DE L'EFFET DE CHAMP COMME CAPTEUR CHIMIQUE ET PLUS PRECISEMENT DE PH. APRES UN RAPPEL THEORIQUE CONCERNANT LES STRUCTURES M.O.S., L'ADAPTATION DE LA METHODE QUASI-STATIQUE ET DE LA TECHNIQUE DE CONDUCTANCE - METHODES CLASSIQUES D'ETUDE DE L'INTERFACE SI-SIO::(2) EN MILIEU SOLIDE - AU MILIEU ELECTROLYTIQUE EST ENVISAGEE POUR ETUDIER L'INFLUENCE DE LA VARIATION DE PH SUR LES DENSITES D'ETATS D'INTERFACE. L'AUTEUR CONCLUT QUE L'ORIGINE DE LA REPONSE AU PH DE TELLES STRUCTURES SE SITUE, NON PAS A L'INTERFACE SILICIUM-OXYDE MAIS A L'INTERFACE OXYDE-ELECTROLYTE. IL INSISTE AUSSI SUR LE FAIT QUE LES ISFET DOIVENT ETRE UTILISES EN L'ABSENCE DE LUMIERE. LA DEUXIEME PARTIE DE CETTE ETUDE PORTE SUR L'INTERFACE SILICE-ELECTROLYTE. DEUX THEORIES SONT ENVISAGEES POUR EXPLIQUER LA REPONSE DES STRUCTURES SI-SIO::(2): CELLE DES LIAISONS PAR SITES ET CELLE DE L'EXISTENC E D'UNE COUCHE HYDRATEE EN SURFACE DE LA SILICE. CERTAINES INVESTIGATIONS, EN PARTICULIER DES MESURES ELLIPSOMETRIQUES
Technological evolution of satellite systems by Pierre Fauroux ( )
2 editions published in 1997 in English and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
Application des Réactions de double transfert à la spectroscopie du C12 by Jacques Joseph ( Book )
3 editions published in 1969 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
Microscopie en champ proche optique de structures à base de cristaux photoniques by Nicolas Louvion ( )
2 editions published in 2005 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide
Active photonic crystals microcavities have been studied by NSOM measurements. Those structures have been studied by spacialy and spectrally resolved near infrared photoluminescence spectroscopy. The NSOM probe is an non metallised chemically etched optical fiber, with a diameter of 250 nm, used in collection mode. This device allow us to study several photonic crystal based-on structures, especially H1 an H2 in microcavities, in near field
Nasenplastik und sonstige Gesichtsplastik : nebst einem Anhang über Mammaplastik; ein Atlas und Lehrbuch by Jacques Joseph ( Book )
1 edition published in 1931 in German and held by 1 WorldCat member library worldwide
L'Etude de l'influence des oxydes sur les propriétés électriques des composants électroniques en phosphure d'indium by Abdelhakim Mahdjoub ( Book )
1 edition published in 1988 in French and held by 1 WorldCat member library worldwide
LE PHOSPHURE D'INDIUM (INP) EST UN SEMICONDUCTEUR POTENTIELLEMENT INTERESSANT POUR L'ELECTRONIQUE. MAIS SON UTILISATION NECESSITE UN CONTROLE DES PROPRIETES DE SURFACE ET NOTAMMENT DES OXYDES. L'ETUDE SYSTEMATIQUE DES PROPRIETES PHYSICOCHIMIQUES DES OXYDES CHIMIQUES ET ELECTROCHIMIQUES A MONTRE L'INTERET DU PHOSPHATE CONDENSE IN(PO::(3))::(3). DANS CETTE THESE L'INFLUENCE DE CES OXYDES SUR LES PROPRIETES ELECTRIQUES DES CAPACITES METAL ISOLANT SEMICONDUCTEUR A ETE EXAMINE. LE ROLE DES DIFFERENTS PARAMETRES D'OXYDATION (ELECTROLYTE, TENSION ELECTRIQUE) A ETE ETUDIE. CE TRAVAIL A PERMIS DE PROPOSER UNE SOLUTION OPTIMISEE A LA PASSIVATION DE L'INP PAR LES OXYDES, PERMETTANT D'OBTENIR DES INTERFACES DE BONNE QUALITE. LE MINIMUM DE LA DENSITE DES ETATS D'INTERFACE EST TYPIQUEMENT INFERIEUR O 10**(1)1 ETATS PAR CM**(2) ET EV DONC COMPARABLE AUX MEILLEURS RESULTATS OBTENUS SUR CE MATERIAU. L'HYSTERESIS EST FAIBLE ET LA STABILITE DANS LE TEMPS CORRECTE
 
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Alternative Names
Joseph, J. 1865-1934
Joseph, Jakob Lewin 1865-1934
Joseph, Jaques 1865-1934
Lewin, Jakob 1865-1934
Languages
German (28)
French (20)
English (8)