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Analyse structurale et chimique des matériaux : Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie électronique

Author: J -P Eberhart
Publisher: Paris : Dunod, 1989.
Edition/Format:   Print book : FrenchView all editions and formats
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Details

Document Type: Book
All Authors / Contributors: J -P Eberhart
ISBN: 2040187979 9782040187972
OCLC Number: 20844463
Description: xiii, 614 p. : ill. ; 25 cm
Responsibility: Jean-Pierre Eberhart.
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