ข้ามไปที่เนือ้หา
Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques แสดงตัวอย่างรายการนี้
ปิดแสดงตัวอย่างรายการนี้
ตรวจสอบ...

Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

ผู้แต่ง: Bharat Bhushan; H Fuchs
สำนักพิมพ์: Berlin ; London : Springer, ©2009.
ชุด: Nanoscience and technology.
ครั้งที่พิมพ์/รูปแบบ:   หนังสืออีเล็กทรอนิกส์ : เอกสาร : ภาษาอังกฤษดูครั้งที่พิมพ์และรูปแบบ
ฐานข้อมูล:WorldCat
สรุป:
The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute  อ่านมากขึ้น…
คะแนน:

(ยังไม่ให้คะแนน) 0 กับความคิดเห็น - เป็นคนแรก

หัวเรื่อง
เพิ่มเติมเช่นนี้

 

ค้นหาสำเนาออนไลน์

เชื่อมโยงไปยังรายการนี้

ค้นหาสำเนาในห้องสมุด

&AllPage.SpinnerRetrieving; ค้นหาห้องสมุดที่มีรายการนี้

รายละเอียด

ประเภท/แบบฟอร์ม Electronic books
รูปแบบทางกายภาพเพิ่มเติม Print version:
Applied scanning probe methods XI.
Berlin ; London : Springer, 2008
(OCoLC)241054756
ขนิดวัสดุ: เอกสาร, ทรัพยากรอินแทอร์เน็ต
ประเภทของเอกสาร: แหล่งข้อมูลอินเทอร์เน็ต, ไฟล์คอมพิวเตอร์
ผู้แต่งทั้งหมด : ผู้แต่งร่วม Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
OCLC Number: 310353447
คำอธิบาย: 1 online resource.
สารบัญ: J. Jersch and H. Fuchs: Oscillation Control in Dynamic SPM --
E. Bonaccurso, D. Golovko, H-J Butt, R. Raiteri, P. Bonanno, T. Haschke, and W. Wiechert: Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation --
M. Teresa Cuberes: Mechanical-Diode based Ultrasonic Atomic Force Microscopies --
M. Brogly, H. Awada, and O. Noel: Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science --
DC Hurley: Contact-Resonance Spectroscopy Techniques for Nanomechanical Measurements --
L. Calabri, N. Pugno, and S. Valeri: AFM Nanoindentation Method: Geometrical effects of the Indenter Tip --
D. Tranchida and S. Piccarolo: Local mechanical properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations --
M. Evstigneev: Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
ชื่อชุด: Nanoscience and technology.
ความรับผิดชอบ: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.

บทคัดย่อ:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  อ่านมากขึ้น…

รีวิว

ความคิดเห็นของบรรณาธิการ

สรุปความของสำนักพิมพ์

From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the อ่านมากขึ้น…

 
ความคิดเห็นผู้ที่ใช้งาน
กำลังค้นคืน รีวิว GoodReads…
ค้นคืน DOGObooks บทวิจารณ์

แท็ก

เป็นคนแรก.

รายการคล้ายกัน

หัวเรื่องที่เกี่ยวข้อง:(3)

ยืนยันคำขอนี้

คุณอาจะร้องขอรายการนี้แล้. โปรดเลือก ตกลง ถ้าคุณต้องการดำเนินการคำขอนี้ต่อไป.

เชิ่อมโยงข้อมูล


Primary Entity

<http://www.worldcat.org/oclc/310353447> # Applied scanning probe methods XI scanning probe microscopy techniques
    a schema:MediaObject, schema:Book, schema:CreativeWork ;
    library:oclcnum "310353447" ;
    library:placeOfPublication <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/906066081#Place/berlin> ; # Berlin
    library:placeOfPublication <http://id.loc.gov/vocabulary/countries/gw> ;
    library:placeOfPublication <http://dbpedia.org/resource/London> ; # London
    schema:about <http://id.worldcat.org/fast/1106485> ; # Scanning probe microscopy
    schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/906066081#Topic/scanning_probe_microscopy_industrial_applications> ; # Scanning probe microscopy--Industrial applications
    schema:about <http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh92001586> ; # Scanning probe microscopy
    schema:about <http://dewey.info/class/502.82/e22/> ;
    schema:about <http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85082081> ; # Materials--Microscopy
    schema:about <http://id.worldcat.org/fast/1011856> ; # Materials--Microscopy
    schema:bookFormat schema:EBook ;
    schema:contributor <http://viaf.org/viaf/17463586> ; # Harald Fuchs
    schema:contributor <http://viaf.org/viaf/2544727> ; # Bharat Bhushan
    schema:copyrightYear "2009" ;
    schema:datePublished "2009" ;
    schema:description "J. Jersch and H. Fuchs: Oscillation Control in Dynamic SPM -- E. Bonaccurso, D. Golovko, H-J Butt, R. Raiteri, P. Bonanno, T. Haschke, and W. Wiechert: Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation -- M. Teresa Cuberes: Mechanical-Diode based Ultrasonic Atomic Force Microscopies -- M. Brogly, H. Awada, and O. Noel: Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science -- DC Hurley: Contact-Resonance Spectroscopy Techniques for Nanomechanical Measurements -- L. Calabri, N. Pugno, and S. Valeri: AFM Nanoindentation Method: Geometrical effects of the Indenter Tip -- D. Tranchida and S. Piccarolo: Local mechanical properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations -- M. Evstigneev: Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction."@en ;
    schema:description "The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective."@en ;
    schema:exampleOfWork <http://worldcat.org/entity/work/id/906066081> ;
    schema:genre "Electronic books"@en ;
    schema:inLanguage "en" ;
    schema:isPartOf <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/906066081#Series/nanoscience_and_technology> ; # Nanoscience and technology.
    schema:isSimilarTo <http://www.worldcat.org/oclc/241054756> ;
    schema:name "Applied scanning probe methods XI scanning probe microscopy techniques"@en ;
    schema:productID "310353447" ;
    schema:publication <http://www.worldcat.org/title/-/oclc/310353447#PublicationEvent/berlin_london_springer_c2009> ;
    schema:publisher <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/906066081#Agent/springer> ; # Springer
    schema:url <http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3> ;
    schema:workExample <http://worldcat.org/isbn/9783540850373> ;
    schema:workExample <http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3> ;
    wdrs:describedby <http://www.worldcat.org/title/-/oclc/310353447> ;
    .


Related Entities

<http://dbpedia.org/resource/London> # London
    a schema:Place ;
    schema:name "London" ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/906066081#Series/nanoscience_and_technology> # Nanoscience and technology.
    a bgn:PublicationSeries ;
    schema:hasPart <http://www.worldcat.org/oclc/310353447> ; # Applied scanning probe methods XI scanning probe microscopy techniques
    schema:name "Nanoscience and technology." ;
    schema:name "Nanoscience and technology" ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/906066081#Topic/scanning_probe_microscopy_industrial_applications> # Scanning probe microscopy--Industrial applications
    a schema:Intangible ;
    schema:hasPart <http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh92001586> ; # Scanning probe microscopy
    schema:name "Scanning probe microscopy--Industrial applications"@en ;
    .

<http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85082081> # Materials--Microscopy
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Materials--Microscopy"@en ;
    .

<http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh92001586> # Scanning probe microscopy
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Scanning probe microscopy"@en ;
    .

<http://id.worldcat.org/fast/1011856> # Materials--Microscopy
    a schema:Intangible ;
    schema:hasPart <http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85082081> ; # Materials--Microscopy
    schema:name "Materials--Microscopy"@en ;
    .

<http://id.worldcat.org/fast/1106485> # Scanning probe microscopy
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Scanning probe microscopy"@en ;
    .

<http://viaf.org/viaf/17463586> # Harald Fuchs
    a schema:Person ;
    schema:familyName "Fuchs" ;
    schema:givenName "Harald" ;
    schema:givenName "H." ;
    schema:name "Harald Fuchs" ;
    .

<http://viaf.org/viaf/2544727> # Bharat Bhushan
    a schema:Person ;
    schema:birthDate "1949" ;
    schema:familyName "Bhushan" ;
    schema:givenName "Bharat" ;
    schema:name "Bharat Bhushan" ;
    .

<http://worldcat.org/isbn/9783540850373>
    a schema:ProductModel ;
    schema:description "electronic book" ;
    schema:isbn "3540850376" ;
    schema:isbn "9783540850373" ;
    .

<http://www.worldcat.org/oclc/241054756>
    a schema:CreativeWork ;
    rdfs:label "Applied scanning probe methods XI." ;
    schema:description "Print version:" ;
    schema:isSimilarTo <http://www.worldcat.org/oclc/310353447> ; # Applied scanning probe methods XI scanning probe microscopy techniques
    .


Content-negotiable representations

Close Window

กรุณาลงชื่อเข้าสู่ระบบ WorldCat 

ยังไม่มีบัญชีผู้ใช้? คุณสามารถสร้างได้อย่างง่ายดาย สร้างบัญชีผู้ใช้ฟรี.