přejít na obsah
Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques Náhled dokumentu
ZavřítNáhled dokumentu
Probíhá kontrola...

Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

Autor Bharat Bhushan; H Fuchs
Vydavatel: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
Edice: Nanoscience and technology.
Vydání/formát:   e-kniha : Document : EnglishZobrazit všechny vydání a formáty
Databáze:WorldCat
Shrnutí:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  Přečíst více...

Hodnocení:

(ještě nehodnoceno) 0 zobrazit recenze - Buďte první.

Předmětová hesla:
Více podobných

 

Najít online exemplář

Odkazy na tento dokument

Vyhledat exemplář v knihovně

&AllPage.SpinnerRetrieving; Vyhledávání knihoven, které vlastní tento dokument...

Detaily

Žánr/forma: Electronic books
Doplňující formát: Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
Typ materiálu: Document, Internetový zdroj
Typ dokumentu: Internet Resource, Computer File
Všichni autoři/tvůrci: Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
OCLC číslo: 311303119
Popis: 1 online resource.
Obsahy: Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Název edice: Nanoscience and technology.
Odpovědnost: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
Více informací:

Recenze

Recenze redakce

Souhrn od vydavatele

From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the Přečíst více...

 
Recenze vložené uživatelem
Nahrávání recenzí GoodReads...
Přebírání recenzí DOGO books...

Štítky

Buďte první.
Potvrdit tento požadavek

Tento dokument jste si již vyžádali. Prosím vyberte Ok pokud chcete přesto v žádance pokračovat.

Propojená data


<http://www.worldcat.org/oclc/311303119>
library:oclcnum"311303119"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/311303119>
rdf:typeschema:Book
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:bookFormatschema:EBook
schema:contributor
schema:contributor
schema:datePublished"2009"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/906066081>
schema:genre"Electronic books."@en
schema:inLanguage"en"
schema:name"Applied scanning probe methods XI scanning probe microscopy techniques"@en
schema:publisher
schema:url<http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3>
schema:url<http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=603359>
schema:url<http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=340433>
schema:url
schema:url<http://site.ebrary.com/id/10253677>
schema:workExample

Content-negotiable representations

Zavřít okno

Prosím přihlaste se do WorldCat 

Nemáte účet? Můžete si jednoduše vytvořit bezplatný účet.