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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques Titelvorschau
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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

Verfasser/in: Bharat Bhushan; H Fuchs
Verlag: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
Serien: Nanoscience and technology.
Ausgabe/Format   E-Book : Dokument : EnglischAlle Ausgaben und Formate anzeigen
Datenbank:WorldCat
Zusammenfassung:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  Weiterlesen…

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Details

Gattung/Form: Electronic books
Physisches Format Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
Medientyp: Dokument, Internetquelle
Dokumenttyp: Internet-Ressource, Computer-Datei
Alle Autoren: Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
OCLC-Nummer: 311303119
Beschreibung: 1 online resource.
Inhalt: Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Serientitel: Nanoscience and technology.
Verfasserangabe: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
Weitere Informationen:

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From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the Weiterlesen…

 
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