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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

Autor: Bharat Bhushan; H Fuchs
Editorial: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
Serie: Nanoscience and technology.
Edición/Formato:   Libro-e : Documento : Inglés (eng)Ver todas las ediciones y todos los formatos
Base de datos:WorldCat
Resumen:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  Leer más

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Detalles

Género/Forma: Electronic books
Formato físico adicional: Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
Tipo de material: Documento, Recurso en Internet
Tipo de documento: Recurso en Internet, Archivo de computadora
Todos autores / colaboradores: Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
Número OCLC: 311303119
Descripción: 1 online resource.
Contenido: Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Título de la serie: Nanoscience and technology.
Responsabilidad: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.

Reseñas

Reseñas editoriales

Resumen de la editorial

From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the Leer más

 
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