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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques Aperçu de cet ouvrage
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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

Auteur : Bharat Bhushan; H Fuchs
Éditeur : Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
Collection : Nanoscience and technology.
Édition/format :   Livre électronique : Document : AnglaisVoir toutes les éditions et les formats
Base de données :WorldCat
Résumé :

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  Lire la suite...

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Détails

Genre/forme : Electronic books
Format – détails additionnels : Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
Type d’ouvrage : Document, Ressource Internet
Format : Ressource Internet, Fichier informatique
Tous les auteurs / collaborateurs : Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN : 9783540850373 3540850376
Numéro OCLC : 311303119
Description : 1 online resource.
Contenu : Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Titre de collection : Nanoscience and technology.
Responsabilité : edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
Plus d’informations :

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Critiques éditoriales

Synopsis de l’éditeur

From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the Lire la suite...

 
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