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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

著者: Bharat Bhushan; H Fuchs
出版: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
シリーズ: Nanoscience and technology.
エディション/フォーマット:   電子書籍 : Document : Englishすべてのエディションとフォーマットを見る
データベース:WorldCat
概要:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  続きを読む

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ジャンル/形式: Electronic books
その他のフォーマット: Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
資料の種類: Document, インターネット資料
ドキュメントの種類: インターネットリソース, コンピューターファイル
すべての著者/寄与者: Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
OCLC No.: 311303119
物理形態: 1 online resource.
コンテンツ: Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
シリーズタイトル: Nanoscience and technology.
責任者: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
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レビュー

編集者のレビュー

出版社によるあらすじ

From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the 続きを読む

 
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