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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

저자: Bharat Bhushan; H Fuchs
출판사: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
시리즈: Nanoscience and technology.
판/형식:   전자도서 : 문서 : 영어모든 판과 형식 보기
데이터베이스:WorldCat
요약:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  더 읽기…

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상세정보

장르/형태: Electronic books
추가적인 물리적 형식: Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
자료 유형: 문서, 인터넷 자료
문서 형식: 인터넷 자원, 컴퓨터 파일
모든 저자 / 참여자: Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
OCLC 번호: 311303119
설명: 1 online resource.
내용: Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
일련 제목: Nanoscience and technology.
책임: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
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출판사 줄거리

From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the 더 읽기…

 
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