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Applied scanning probe methods XI : scanning probe microscopy techniques

Autor: Bharat Bhushan; H Fuchs
Editora: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009.
Séries: Nanoscience and technology.
Edição/Formato   e-book : Documento : InglêsVer todas as edições e formatos
Base de Dados:WorldCat
Resumo:

The volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM  Ler mais...

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Detalhes

Gênero/Forma: Electronic books
Formato Físico Adicional: Print version:
Bhushan, Bharat.
Applied Scanning Probe Methods XI.
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009
(OCoLC)241054756
Tipo de Material: Documento, Recurso Internet
Tipo de Documento: Recurso Internet, Arquivo de Computador
Todos os Autores / Contribuintes: Bharat Bhushan; H Fuchs
ISBN: 9783540850373 3540850376
Número OCLC: 311303119
Descrição: 1 online resource.
Conteúdos: Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors.- Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation.- Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies.- Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science.- Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements.- AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip.- Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations.- Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction.
Título da Série: Nanoscience and technology.
Responsabilidade: edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
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From the reviews: "Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. ... The editors and their talented authors have been among the leaders in the Ler mais...

 
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