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Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes Aperçu de cet ouvrage
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Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes

Auteur : Iain Cockburn; Samuel Kortum; Scott Stern; National Bureau of Economic Research.
Éditeur : Cambridge, MA. : National Bureau of Economic Research, ©2002.
Collection : Working paper series (National Bureau of Economic Research), working paper no. 8980.
Édition/format :   Livre : AnglaisVoir toutes les éditions et les formats
Base de données :WorldCat
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Détails

Type d’ouvrage : Ressource Internet
Format : Livre, Ressource Internet
Tous les auteurs / collaborateurs : Iain Cockburn; Samuel Kortum; Scott Stern; National Bureau of Economic Research.
Numéro OCLC : 50399340
Notes : "June 2002."
Description : 34, [8] p. : ill. ; 22 cm.
Titre de collection : Working paper series (National Bureau of Economic Research), working paper no. 8980.
Responsabilité : Iain M. Cockburn, Samuel Kortum, Scott Stern.

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Données liées


<http://www.worldcat.org/oclc/50399340>
library:oclcnum"50399340"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/50399340>
rdf:typeschema:Book
rdfs:seeAlso
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1054823>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Patent laws and legislation"
schema:name"Patent laws and legislation."
schema:about
rdf:typeschema:Organization
schema:name"United States. Patent and Trademark Office"
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1145002>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Technological innovations"
schema:name"Technological innovations."
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:author
schema:contributor
schema:contributor
schema:contributor
schema:copyrightYear"2002"
schema:datePublished"2002"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/6561585>
schema:inLanguage"en"
schema:name"Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes"
schema:numberOfPages"8"
schema:publisher
rdf:typeschema:Organization
schema:name"National Bureau of Economic Research"

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