ข้ามไปที่เนือ้หา
Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes แสดงตัวอย่างรายการนี้
ปิดแสดงตัวอย่างรายการนี้
Checking...

Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes

ผู้แต่ง: Iain Cockburn; Samuel Kortum; Scott Stern; National Bureau of Economic Research.
สำนักพิมพ์: Cambridge, MA. : National Bureau of Economic Research, ©2002.
ชุด: Working paper series (National Bureau of Economic Research), working paper no. 8980.
ครั้งที่พิมพ์/รูปแบบ:   หนังสือ : Englishดูครั้งที่พิมพ์และรูปแบบ
ฐานข้อมูล:WorldCat
คะแนน:

(ยังไม่ให้คะแนน) 0 กับความคิดเห็น - เป็นคนแรก

หัวเรื่อง
เพิ่มเติมเช่นนี้

 

ค้นหาสำเนาออนไลน์

เชื่อมโยงไปยังรายการนี้

ค้นหาสำเนาในห้องสมุด

กำลังดึงข้อมูล… ค้นหาห้องสมุดที่มีรายการนี้

รายละเอียด

ขนิดวัสดุ: ทรัพยากรอินเตอร์เน็ต
ประเภทของเอกสาร: หนังสือ, แหล่งข้อมูลอินเทอร์เน็ต
ผู้เขียนทั้งหมด : ผู้เขียนร่วม Iain Cockburn; Samuel Kortum; Scott Stern; National Bureau of Economic Research.
OCLC Number: 50399340
หมายเหตุ: "June 2002."
คำอธิบาย: 34, [8] p. : ill. ; 22 cm.
หัวข้อชุด: Working paper series (National Bureau of Economic Research), working paper no. 8980.
ความรับผิดชอบ Iain M. Cockburn, Samuel Kortum, Scott Stern.

รีวิว

ความคิดเห็นผู้ที่ใช้งาน
กำลังดึง รีวิว GoodReads…
Retrieving DOGObooks reviews...

แท็ก

เป็นคนแรก.
ยืนยันคำขอนี้

คุณอาจะร้องขอรายการนี้แล้. โปรดเลือก ตกลง ถ้าคุณต้องการดำเนินการคำขอนี้ต่อไป.

Linked Data


<http://www.worldcat.org/oclc/50399340>
library:oclcnum"50399340"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/50399340>
rdf:typeschema:Book
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1054823>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Patent laws and legislation"@en
schema:name"Patent laws and legislation."@en
schema:about
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1145002>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Technological innovations"@en
schema:name"Technological innovations."@en
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
<http://viaf.org/viaf/149517371>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"United States. Patent and Trademark Office."
schema:about
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/975774>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Intellectual property"@en
schema:name"Intellectual property."@en
schema:contributor
schema:contributor
schema:contributor
schema:copyrightYear"2002"
schema:creator
schema:datePublished"2002"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/6561585>
schema:inLanguage"en"
schema:name"Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes"@en
schema:numberOfPages"8"
schema:publisher
schema:url

Content-negotiable representations

ปิดหน้าต่าง

กรุณาลงชื่อเข้าสู่ระบบ WorldCat 

ยังไม่มีบัญชีผู้ใช้? คุณสามารถสร้างได้อย่างง่ายดาย สร้างบัญชีผู้ใช้ฟรี.