doorgaan naar inhoud
Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes Voorbeeldweergave van dit item
SluitenVoorbeeldweergave van dit item
Bezig met controle...

Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes

Auteur: Iain Cockburn; Samuel Kortum; Scott Stern; National Bureau of Economic Research.
Uitgever: Cambridge, MA. : National Bureau of Economic Research, ©2002.
Serie: Working paper series (National Bureau of Economic Research), working paper no. 8980.
Editie/Formaat:   Boek : EngelsAlle edities en materiaalsoorten bekijken.
Database:WorldCat
Beoordeling:

(nog niet beoordeeld) 0 met beoordelingen - U bent de eerste

Onderwerpen
Meer in deze trant

 

Zoeken naar een online exemplaar

Zoeken naar een in de bibliotheek beschikbaar exemplaar

&AllPage.SpinnerRetrieving; Bibliotheken met dit item worden gezocht…

Details

Genre: Internetbron
Soort document: Boek, Internetbron
Alle auteurs / medewerkers: Iain Cockburn; Samuel Kortum; Scott Stern; National Bureau of Economic Research.
OCLC-nummer: 50399340
Opmerkingen: "June 2002."
Beschrijving: 34, [8] p. : ill. ; 22 cm.
Serietitel: Working paper series (National Bureau of Economic Research), working paper no. 8980.
Verantwoordelijkheid: Iain M. Cockburn, Samuel Kortum, Scott Stern.

Beoordelingen

Beoordelingen door gebruikers
Beoordelingen van GoodReads worden opgehaald...
Bezig met opvragen DOGObooks-reviews...

Tags

U bent de eerste.
Bevestig deze aanvraag

Misschien heeft u dit item reeds aangevraagd. Selecteer a.u.b. Ok als u toch wilt doorgaan met deze aanvraag.

Gekoppelde data


<http://www.worldcat.org/oclc/50399340>
library:oclcnum"50399340"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/50399340>
rdf:typeschema:Book
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1054823>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Patent laws and legislation"@en
schema:name"Patent laws and legislation."@en
schema:about
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1145002>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Technological innovations"@en
schema:name"Technological innovations."@en
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
<http://viaf.org/viaf/149517371>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"United States. Patent and Trademark Office."
schema:about
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/975774>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Intellectual property"@en
schema:name"Intellectual property."@en
schema:contributor
schema:contributor
schema:contributor
schema:copyrightYear"2002"
schema:creator
schema:datePublished"2002"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/6561585>
schema:inLanguage"en"
schema:name"Are all patent examiners equal? : the impact of characteristics on patent statistics and litigation outcomes"@en
schema:numberOfPages"8"
schema:publisher
schema:url

Content-negotiable representations

Venster sluiten

Meld u aan bij WorldCat 

Heeft u geen account? U kunt eenvoudig een nieuwe gratis account aanmaken.