doorgaan naar inhoud
Design for high performance, low power, and reliable 3D integrated circuits Voorbeeldweergave van dit item
SluitenVoorbeeldweergave van dit item

Design for high performance, low power, and reliable 3D integrated circuits

Auteur: Sung Kyu Lim
Uitgever: New York ; London : Springer, ©2013.
Editie/Formaat:   eBoek : Document : EngelsAlle edities en materiaalsoorten bekijken.
Samenvatting:

This book describes a variety of algorithms and software tools, dedicated to the physical design of through-silicon-via (TSV) based, three-dimensional integrated circuits. It provides full details of  Meer lezen...

Beoordeling:

(nog niet beoordeeld) 0 met beoordelingen - U bent de eerste

Onderwerpen
Meer in deze trant

 

Zoeken naar een online exemplaar

Links naar dit item

Zoeken naar een in de bibliotheek beschikbaar exemplaar

&AllPage.SpinnerRetrieving; Bibliotheken met dit item worden gezocht…

Details

Genre/Vorm: Electronic books
Aanvullende fysieke materiaalsoort: Print version:
Lim, Sung Kyu.
Design for high performance, low power, and reliable 3D integrated circuits.
New York ; London : Springer, 2012
(OCoLC)819520313
Genre: Document, Internetbron
Soort document: Internetbron, Computerbestand
Alle auteurs / medewerkers: Sung Kyu Lim
ISBN: 9781441995421 1441995420
OCLC-nummer: 821614862
Beschrijving: 1 online resource.
Inhoud: Regular vs Irregular TSV Placementfor 3D IC --
Steiner Routingfor 3D IC --
Buffer Insertion for 3D IC.- Low Power Clock Routing for 3D IC --
Power Delivery Network Design for 3D IC --
3D Clock Routing for Pre-bond Testability --
TSV-to-TSV Coupling Analysis and Optimization --
TSV Current Crowding and Power Integrity --
Modeling of Atomic Concentration at the Wire-to-TSV Interface --
Multi-Objective Archetectural Floorplanning for 3D IC --
Thermal-aware Gate-level Placement for 3D IC --
3D IC Cooling with Micro-Fluidic Channels --
Mechanical Reliability Analysis and Optimization for 3D IC --
Impact of Mechanical Stress on Timing Variation for 3D IC --
Chip/Package Co-Analysis of Mechanical Stress for 3D IC --
3D Chip/Packaging Co-Analysis of Stress-Induced Timing Variations --
TSV Interfracial Crack Analysis and Optimization --
Ultra High Logic Designs Using Monolithic 3D Integration --
Impact of TSV Scaling on 3D IC Design Quality --
3D-MAPS: 3DMassively Parallel Processor with Stacked Memory.
Verantwoordelijkheid: Sung Kyu Lim.

Beoordelingen

Beoordelingen door gebruikers
Beoordelingen van GoodReads worden opgehaald...
Retrieving DOGObooks reviews...

Tags

U bent de eerste.
Bevestig deze aanvraag

Misschien heeft u dit item reeds aangevraagd. Selecteer a.u.b. Ok als u toch wilt doorgaan met deze aanvraag.

Gekoppelde data


<http://www.worldcat.org/oclc/821614862>
library:oclcnum"821614862"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/821614862>
rdf:typeschema:Book
rdfs:seeAlso
rdfs:seeAlso
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:author
schema:bookFormatschema:EBook
schema:copyrightYear"2013"
schema:datePublished"2013"
schema:inLanguage"en"
schema:name"Design for high performance, low power, and reliable 3D integrated circuits"
schema:publisher
schema:url<http://site.ebrary.com/id/10631373>
schema:url<http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9542-1>
Venster sluiten

Meld u aan bij WorldCat 

Heeft u geen account? U kunt eenvoudig een nieuwe gratis account aanmaken.