přejít na obsah
Electron microscopy and analysis 1997 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, 2-5 September 1997 Náhled dokumentu
ZavřítNáhled dokumentu
Probíhá kontrola...

Electron microscopy and analysis 1997 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, 2-5 September 1997

Autor J M Rodenburg; Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group.
Vydavatel: Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics Pub., 1997.
Edice: Institute of Physics conference series, no. 153.
Vydání/formát:   Kniha : Conference publication : EnglishZobrazit všechny vydání a formáty
Databáze:WorldCat
Shrnutí:

Includes papers on the early history of electron microscopy, the development of the scanning electron microscope at Cambridge, electron energy loss spectroscopy, imaging methods, and the future of  Přečíst více...

Hodnocení:

(ještě nehodnoceno) 0 zobrazit recenze - Buďte první.

Předmětová hesla:
Více podobných

 

Vyhledat exemplář v knihovně

&AllPage.SpinnerRetrieving; Vyhledávání knihoven, které vlastní tento dokument...

Detaily

Žánr/forma: Cambridge (1997)
Conference proceedings
Congresses
Typ materiálu: Conference publication
Typ dokumentu: Book
Všichni autoři/tvůrci: J M Rodenburg; Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group.
ISBN: 0750304413 9780750304412
OCLC číslo: 37947398
Popis: xviii, 687 p. : ill. ; 24 cm.
Obsahy: Plenary lectures (5 papers). New instrumentation and electron optics (15 papers). High resolution electron microscopy (8 papers). Electron crystallography (5 papers). Electron energy-loss spectroscopy (11 papers). Advanced scanning probe techniques (6 papers). Advanced scanning electron microsocpy and surface science (11 papers). Microanalysis (27 papers). Catalysts (7 papers). Semiconductors and superconductors (12 papers). Ceramics and interfaces (19 papers). Intermetallics (11 papers). General materials analysis (23 papers). Index.
Název edice: Institute of Physics conference series, no. 153.
Odpovědnost: edited by J.M. Rodenburg.
Více informací:

Recenze

Recenze redakce

Souhrn od vydavatele

Abstracted in INSPEC Database. ted in INSPEC Database.

 
Recenze vložené uživatelem
Nahrávání recenzí GoodReads...
Přebírání recenzí DOGO books...

Štítky

Buďte první.
Potvrdit tento požadavek

Tento dokument jste si již vyžádali. Prosím vyberte Ok pokud chcete přesto v žádance pokračovat.

Propojená data


<http://www.worldcat.org/oclc/37947398>
library:oclcnum"37947398"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/37947398>
rdf:typeschema:Book
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:contributor
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/144825100>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group."
schema:datePublished"1997"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/837023034>
schema:genre"Conference proceedings."@en
schema:genre"Conference proceedings"@en
schema:genre"Cambridge (1997)"@en
schema:inLanguage"en"
schema:name"Electron microscopy and analysis 1997 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, 2-5 September 1997"@en
schema:numberOfPages"687"
schema:publisher
schema:url
schema:workExample
umbel:isLike<http://bnb.data.bl.uk/id/resource/GB9836038>

Content-negotiable representations

Zavřít okno

Prosím přihlaste se do WorldCat 

Nemáte účet? Můžete si jednoduše vytvořit bezplatný účet.