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Electron microscopy and analysis 1997 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, 2-5 September 1997 Titelvorschau
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Electron microscopy and analysis 1997 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, 2-5 September 1997

Verfasser/in: J M Rodenburg; Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group.
Verlag: Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics Pub., 1997.
Serien: Institute of Physics conference series, no. 153.
Ausgabe/Format   Buch : Tagungsband : EnglischAlle Ausgaben und Formate anzeigen
Datenbank:WorldCat
Zusammenfassung:

Includes papers on the early history of electron microscopy, the development of the scanning electron microscope at Cambridge, electron energy loss spectroscopy, imaging methods, and the future of  Weiterlesen…

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Details

Gattung/Form: Cambridge (1997)
Conference proceedings
Congresses
Medientyp: Tagungsband
Dokumenttyp: Buch
Alle Autoren: J M Rodenburg; Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group.
ISBN: 0750304413 9780750304412
OCLC-Nummer: 37947398
Beschreibung: xviii, 687 p. : ill. ; 24 cm.
Inhalt: Plenary lectures (5 papers). New instrumentation and electron optics (15 papers). High resolution electron microscopy (8 papers). Electron crystallography (5 papers). Electron energy-loss spectroscopy (11 papers). Advanced scanning probe techniques (6 papers). Advanced scanning electron microsocpy and surface science (11 papers). Microanalysis (27 papers). Catalysts (7 papers). Semiconductors and superconductors (12 papers). Ceramics and interfaces (19 papers). Intermetallics (11 papers). General materials analysis (23 papers). Index.
Serientitel: Institute of Physics conference series, no. 153.
Verfasserangabe: edited by J.M. Rodenburg.
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