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Electron microscopy and analysis 1997 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, Cavendish Laboratory, University of Cambridge, 2-5 September 1997

Autor: J M Rodenburg; Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group.
Editorial: Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics Pub., 1997.
Serie: Institute of Physics conference series, no. 153.
Edición/Formato:   Libro : Publicación de conferencia : Inglés (eng)Ver todas las ediciones y todos los formatos
Base de datos:WorldCat
Resumen:

Includes papers on the early history of electron microscopy, the development of the scanning electron microscope at Cambridge, electron energy loss spectroscopy, imaging methods, and the future of  Leer más

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Detalles

Género/Forma: Cambridge (1997)
Conference proceedings
Congresses
Tipo de material: Publicación de conferencia
Tipo de documento: Libro/Texto
Todos autores / colaboradores: J M Rodenburg; Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group.
ISBN: 0750304413 9780750304412
Número OCLC: 37947398
Descripción: xviii, 687 p. : ill. ; 24 cm.
Contenido: Plenary lectures (5 papers). New instrumentation and electron optics (15 papers). High resolution electron microscopy (8 papers). Electron crystallography (5 papers). Electron energy-loss spectroscopy (11 papers). Advanced scanning probe techniques (6 papers). Advanced scanning electron microsocpy and surface science (11 papers). Microanalysis (27 papers). Catalysts (7 papers). Semiconductors and superconductors (12 papers). Ceramics and interfaces (19 papers). Intermetallics (11 papers). General materials analysis (23 papers). Index.
Título de la serie: Institute of Physics conference series, no. 153.
Responsabilidad: edited by J.M. Rodenburg.
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