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Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California

Autor: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
Editorial: Bellingham, Wash. : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, ©1996.
Serie: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
Edición/Formato:   Libro : Publicación de conferencia : Inglés (eng)Ver todas las ediciones y todos los formatos
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Detalles

Género/Forma: Conference proceedings
Congresses
Tipo de material: Publicación de conferencia
Tipo de documento: Libro/Texto
Todos autores / colaboradores: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
ISBN: 0819420573 9780819420572
Número OCLC: 34708724
Descripción: vii, 162 p. : ill. ; 28 cm.
Contenido: Novel devices and fabrication processes --
Device testing and reliability --
Poster session.
Título de la serie: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
Responsabilidad: Mahmoud Fallahi, S.C. Wang, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organization ARPA--Advanced Research Projects Agency.

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