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Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California

著者: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
出版: Bellingham, Wash. : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, ©1996.
シリーズ: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
エディション/フォーマット:   book_printbook : Conference publication : Englishすべてのエディションとフォーマットを見る
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ジャンル/形式: Conference proceedings
Congresses
資料の種類: Conference publication
ドキュメントの種類: 図書
すべての著者/寄与者: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
ISBN: 0819420573 9780819420572
OCLC No.: 34708724
物理形態: vii, 162 pages : illustrations ; 28 cm.
コンテンツ: Novel devices and fabrication processes --
Device testing and reliability --
Poster session.
シリーズタイトル: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
責任者: Mahmoud Fallahi, S.C. Wang, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organization ARPA--Advanced Research Projects Agency.

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<http://www.worldcat.org/oclc/34708724>
library:oclcnum"34708724"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
rdf:typeschema:Book
rdf:valueUnknown value: cnp
schema:about
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1112171>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Semiconductor lasers--Design and construction."@en
schema:about
schema:about
schema:about
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/151856603>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Society of Photo-optical Instrumentation Engineers."
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/154230733>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"United States. Advanced Research Projects Agency."
schema:contributor
schema:contributor
schema:copyrightYear"1996"
schema:datePublished"1996"
schema:description"Novel devices and fabrication processes -- Device testing and reliability -- Poster session."@en
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/366148095>
schema:genre"Conference proceedings"@en
schema:inLanguage"en"
schema:isPartOf
schema:name"Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California"@en
schema:publication
schema:publisher
schema:workExample
wdrs:describedby

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