doorgaan naar inhoud
Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California Voorbeeldweergave van dit item
SluitenVoorbeeldweergave van dit item
Bezig met controle...

Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California

Auteur: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
Uitgever: Bellingham, Wash. : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, ©1996.
Serie: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
Editie/Formaat:   Boek : Conferentie-uitgave : EngelsAlle edities en materiaalsoorten bekijken.
Database:WorldCat
Beoordeling:

(nog niet beoordeeld) 0 met beoordelingen - U bent de eerste

Onderwerpen
Meer in deze trant

 

Zoeken naar een in de bibliotheek beschikbaar exemplaar

&AllPage.SpinnerRetrieving; Bibliotheken met dit item worden gezocht…

Details

Genre/Vorm: Conference proceedings
Congresses
Genre: Conferentie-uitgave
Soort document: Boek
Alle auteurs / medewerkers: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
ISBN: 0819420573 9780819420572
OCLC-nummer: 34708724
Beschrijving: vii, 162 p. : ill. ; 28 cm.
Inhoud: Novel devices and fabrication processes --
Device testing and reliability --
Poster session.
Serietitel: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
Verantwoordelijkheid: Mahmoud Fallahi, S.C. Wang, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organization ARPA--Advanced Research Projects Agency.

Beoordelingen

Beoordelingen door gebruikers
Beoordelingen van GoodReads worden opgehaald...
Bezig met opvragen DOGObooks-reviews...

Tags

U bent de eerste.
Bevestig deze aanvraag

Misschien heeft u dit item reeds aangevraagd. Selecteer a.u.b. Ok als u toch wilt doorgaan met deze aanvraag.

Gekoppelde data


<http://www.worldcat.org/oclc/34708724>
library:oclcnum"34708724"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/34708724>
rdf:typeschema:Book
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1112171>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Semiconductor lasers--Design and construction"@en
schema:about
schema:about
<http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85119896>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Semiconductor lasers--Testing"@en
schema:name"Semiconductor lasers--Design and construction"@en
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1112175>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Semiconductor lasers--Testing."@en
schema:name"Semiconductor lasers--Testing"@en
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/151856603>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Society of Photo-optical Instrumentation Engineers."
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/154230733>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"United States. Advanced Research Projects Agency."
schema:contributor
schema:contributor
schema:copyrightYear"1996"
schema:datePublished"1996"
schema:description"Novel devices and fabrication processes -- Device testing and reliability -- Poster session."@en
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/366148095>
schema:genre"Conference proceedings."@en
schema:genre"Conference proceedings"@en
schema:inLanguage"en"
schema:name"Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California"@en
schema:numberOfPages"162"
schema:publisher
schema:url
schema:workExample

Content-negotiable representations

Venster sluiten

Meld u aan bij WorldCat 

Heeft u geen account? U kunt eenvoudig een nieuwe gratis account aanmaken.