ข้ามไปที่เนือ้หา
Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California แสดงตัวอย่างรายการนี้
ปิดแสดงตัวอย่างรายการนี้
ตรวจสอบ...

Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California

ผู้แต่ง: Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
สำนักพิมพ์: Bellingham, Wash. : Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, ©1996.
ชุด: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
ครั้งที่พิมพ์/รูปแบบ:   หนังสือ : สิ่งพิมพ์การประชุม : ภาษาอังกฤษดูครั้งที่พิมพ์และรูปแบบ
ฐานข้อมูล:WorldCat
คะแนน:

(ยังไม่ให้คะแนน) 0 กับความคิดเห็น - เป็นคนแรก

หัวเรื่อง
เพิ่มเติมเช่นนี้

 

ค้นหาสำเนาในห้องสมุด

&AllPage.SpinnerRetrieving; ค้นหาห้องสมุดที่มีรายการนี้

รายละเอียด

ประเภท/แบบฟอร์ม Conference proceedings
Congresses
ขนิดวัสดุ: สิ่งพิมพ์การประชุม
ประเภทของเอกสาร: หนังสือ
ผู้แต่งทั้งหมด : ผู้แต่งร่วม Mahmoud Fallahi; S C Wang; Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.; United States. Advanced Research Projects Agency.
ISBN: 0819420573 9780819420572
OCLC Number: 34708724
คำอธิบาย: vii, 162 pages : illustrations ; 28 cm.
สารบัญ: Novel devices and fabrication processes --
Device testing and reliability --
Poster session.
ชื่อชุด: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, v. 2683.
ความรับผิดชอบ: Mahmoud Fallahi, S.C. Wang, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cooperating organization ARPA--Advanced Research Projects Agency.

รีวิว

ความคิดเห็นผู้ที่ใช้งาน
กำลังค้นคืน รีวิว GoodReads…
ค้นคืน DOGObooks บทวิจารณ์

แท็ก

เป็นคนแรก.
ยืนยันคำขอนี้

คุณอาจะร้องขอรายการนี้แล้. โปรดเลือก ตกลง ถ้าคุณต้องการดำเนินการคำขอนี้ต่อไป.

เชิ่อมโยงข้อมูล


<http://www.worldcat.org/oclc/34708724>
library:oclcnum"34708724"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
rdf:typeschema:Book
rdf:valueUnknown value: cnp
schema:about
schema:about
<http://id.worldcat.org/fast/1112171>
rdf:typeschema:Intangible
schema:name"Semiconductor lasers--Design and construction."@en
schema:about
schema:about
schema:about
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/151856603>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Society of Photo-optical Instrumentation Engineers."
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/154230733>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"United States. Advanced Research Projects Agency."
schema:contributor
schema:contributor
schema:copyrightYear"1996"
schema:datePublished"1996"
schema:description"Novel devices and fabrication processes -- Device testing and reliability -- Poster session."@en
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/366148095>
schema:genre"Conference proceedings"@en
schema:inLanguage"en"
schema:isPartOf
schema:name"Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California"@en
schema:publication
schema:publisher
schema:workExample
wdrs:describedby

Content-negotiable representations

Close Window

กรุณาลงชื่อเข้าสู่ระบบ WorldCat 

ยังไม่มีบัญชีผู้ใช้? คุณสามารถสร้างได้อย่างง่ายดาย สร้างบัญชีผู้ใช้ฟรี.