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Handbook of charged particle optics
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Handbook of charged particle optics

Auteur : Jon Orloff
Éditeur : Boca Raton : CRC Press/Taylor & Francis, ©2009.
Édition/format :  Livre : Anglais : 2nd edVoir toutes les éditions et les formats
Résumé :

A guide to understanding, designing, and using high resolution probe instrumentation. It offers information for the design and operation of high resolution focused probe instruments. It features  Lire la suite...

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Détails

Genre/forme : Handbooks, manuals, etc
Type d’ouvrage : Ressource Internet
Format : Livre, Ressource Internet
Tous les auteurs / collaborateurs : Jon Orloff
ISBN : 9781420045543 1420045547
Numéro OCLC : 213765926
Description : xi, 665 p., [7] p. of plates : ill. (some col.) ; 27 cm.
Contenu : Review of ZrO/W Schottky cathode / Lyn W. Swanson, Gregory A. Schwind --
Liquid metal ion sources / Richard G. Forbes, (the late) Graeme L.R. Mair --
Gas field ionization sources / Richard G. Forbes --
Magnetic lenses for electron microscopy / Katsushige Tsuno --
Electrostatic lenses / Bohumila Lencová --
Aberrations / Peter W. Hawkes --
Space charge and statistical coulomb effects / Pieter Kruit, Guus H. Jansen --
Resolution / Mitsugu Sato --
The scanning electron microscope / András E. Vladár, Michael T. Postek --
The scanning transmission electron microscope / Albert V. Crewe; updated by Peter D. Nellist --
Focused ion beams / M. Utlaut --
Aberration correction in electron microscopy / Ondrej L. Krivanek, Niklas Dellby, Matthew F. Murfitt --
Appendix: Computational resources for electron microscopy / J. Orloff; with valuable information from Peter W. Hawkes, Bohumila Lencová.
Responsabilité : edited by Jon Orloff.
Plus d’informations :

Critiques

Critiques éditoriales

Synopsis de l’éditeur

! In giving [a] combination of practical and theoretical aspects, the book is a valuable reference when it comes to the design of charged particle optical elements in microscopy such as scanning Lire la suite...

 
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