zum Inhalt wechseln
Handbook of optical metrology : principles and applications Titelvorschau
SchließenTitelvorschau
Prüfung…

Handbook of optical metrology : principles and applications

Verfasser/in: Tōru Yoshizawa
Verlag: Boca Raton : CRC Press, ©2009.
Ausgabe/Format   Buch : EnglischAlle Ausgaben und Formate anzeigen
Datenbank:WorldCat
Zusammenfassung:

Discusses fundamental principles and techniques, exploring practical applications of optical methods. This handbook contains thirty chapters divided into three sections such as: Fundamental of  Weiterlesen…

Bewertung:

(noch nicht bewertet) 0 mit Rezensionen - Verfassen Sie als Erste eine Rezension.

Themen
Ähnliche Titel

 

Online anzeigen

Links zu diesem Titel

Exemplar ausleihen

&AllPage.SpinnerRetrieving; Suche nach Bibliotheken, die diesen Titel besitzen ...

Details

Gattung/Form: Handbooks, manuals, etc
Aufsatzsammlung
Medientyp: Internetquelle
Dokumenttyp: Buch, Internet-Ressource
Alle Autoren: Tōru Yoshizawa
ISBN: 9780849337604 0849337607
OCLC-Nummer: 149650317
Beschreibung: xiii, 730 pages : illustrations ; 27 cm
Inhalt: Part I: Fundamentals of optical elements and devices --
Light sources / Natalia Dushkina --
Lenses, prisms, and mirrors / Peter R. Hall --
Optoelectronic sensors / Motohiro Suyama --
Optical devices and optomechanical elements / Akihiko Chaki, Kenji Magara --
Part II: Fundamentals of principles and techniques for metrology --
Propagation of light / Natalie Dushkina --
Interferometry / David A. Page --
Holography / Giancarlo Pedrini --
Speckle methods and applications / Nandigana Krishna Mohan --
Moire Metrology / Lianhua Jin --
Optical heterodyne measurement method / Masao Hiramo --
Diffraction / Toru Yoshizawa --
Light scattering / Lev T. Perelman --
Polarization / Michael Shribak --
Near-field optics / Wenhao Huang, Xi Li, Guoyong Zhang --
Length and size / René Schödel --
Part III: Practical applications --
Displacement / Akiko Hirai, Mariko Kajima, Souichi Telada --
Straightness and alignment / Ruedi Thalmann --
Flatness / Toshiyuki Takatsuji, Youichi Bitou --
Surface profilometry / Toru Yoshizawa, Toshitaka Wakayama --
Three-dimensional shape measurement / Frank Chen, Gordon M. Brown, Mumin Song --
Fringe analysis / Jun-ichi Kato --
Photogrammetry / Nobuo Kochi --
Optical methods in solid mechanics / Anand Asundi --
Optical methods in flow management / Sang Joon Lee --
Polarimetry / Baoliang Wang --
Birefringence measurement / Yukitoshi Otani --
Ellipsometry / Hiroyuki Fujiwara --
Optical thin film and coatings / Chen-Chung Lee, Shigetaro Ogura --
Film surface and thickness profilometry / Katsuichi Kitagawa --
On-machine measurements / Takashi Nomura, Kazuhide Kamiya.
Verfasserangabe: edited by Toru Yoshizawa.
Weitere Informationen:

Rezensionen

Nutzer-Rezensionen
Suche nach GoodReads-Rezensionen
Suche nach DOGObooks-Rezensionen…

Tags

Alle Nutzer-Tags (2)

Anzeige der beliebtesten Schlagwörter als: Schlagwortliste | Tag Cloud

  • bf2010  (von 1 Person)
  • ref  (von 1 Person)

Ähnliche Titel

Verwandte Themen:(6)

Nutzerlisten mit diesen Titeln (3)

Anfrage bestätigen

Sie haben diesen Titel bereits angefordert. Wenn Sie trotzdem fortfahren möchten, klicken Sie auf OK.

Verlinkung


<http://www.worldcat.org/oclc/149650317>
library:oclcnum"149650317"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/149650317>
rdf:typeschema:Book
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:contributor
schema:copyrightYear"2009"
schema:datePublished"2009"
schema:description"Part I: Fundamentals of optical elements and devices -- Light sources / Natalia Dushkina -- Lenses, prisms, and mirrors / Peter R. Hall -- Optoelectronic sensors / Motohiro Suyama -- Optical devices and optomechanical elements / Akihiko Chaki, Kenji Magara -- Part II: Fundamentals of principles and techniques for metrology -- Propagation of light / Natalie Dushkina -- Interferometry / David A. Page -- Holography / Giancarlo Pedrini -- Speckle methods and applications / Nandigana Krishna Mohan -- Moire Metrology / Lianhua Jin -- Optical heterodyne measurement method / Masao Hiramo -- Diffraction / Toru Yoshizawa -- Light scattering / Lev T. Perelman -- Polarization / Michael Shribak -- Near-field optics / Wenhao Huang, Xi Li, Guoyong Zhang -- Length and size / René Schödel -- Part III: Practical applications -- Displacement / Akiko Hirai, Mariko Kajima, Souichi Telada -- Straightness and alignment / Ruedi Thalmann -- Flatness / Toshiyuki Takatsuji, Youichi Bitou -- Surface profilometry / Toru Yoshizawa, Toshitaka Wakayama -- Three-dimensional shape measurement / Frank Chen, Gordon M. Brown, Mumin Song -- Fringe analysis / Jun-ichi Kato -- Photogrammetry / Nobuo Kochi -- Optical methods in solid mechanics / Anand Asundi -- Optical methods in flow management / Sang Joon Lee -- Polarimetry / Baoliang Wang -- Birefringence measurement / Yukitoshi Otani -- Ellipsometry / Hiroyuki Fujiwara -- Optical thin film and coatings / Chen-Chung Lee, Shigetaro Ogura -- Film surface and thickness profilometry / Katsuichi Kitagawa -- On-machine measurements / Takashi Nomura, Kazuhide Kamiya."@en
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/800783094>
schema:genre"Handbooks, manuals, etc."@en
schema:genre"Aufsatzsammlung."@en
schema:inLanguage"en"
schema:name"Handbook of optical metrology : principles and applications"@en
schema:publisher
schema:url
schema:workExample
umbel:isLike<http://bnb.data.bl.uk/id/resource/GBA8C8682>

Content-negotiable representations

Fenster schließen

Bitte in WorldCat einloggen 

Sie haben kein Konto? Sie können sehr einfach ein kostenloses Konto anlegen,.