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IEEE transactions on reliability

Auteur : Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability.; IEEE Reliability Group.; IEEE Reliability Society.; American Society for Quality Control. Electronics Division.
Éditeur : [New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, ©1963-
Édition/format :   Périodique, revue : Périodique : AnglaisVoir toutes les éditions et les formats
Base de données :WorldCat
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Détails

Genre/forme : Periodicals
Périodiques
Format – détails additionnels : IEEE transactions on reliability (Online)
(DLC) 2005214278
(OCoLC)44607842
Online version:
IEEE transactions on reliability
(OCoLC)562213690
Online version:
IEEE transactions on reliability
(OCoLC)606215212
Type d’ouvrage : Périodique, Ressource Internet
Format : Périodique / revue / journal, Ressource Internet
Tous les auteurs / collaborateurs : Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability.; IEEE Reliability Group.; IEEE Reliability Society.; American Society for Quality Control. Electronics Division.
ISSN :0018-9529
Numéro OCLC : 1752560
Notes : Title from cover.
Description : v. : ill. ; 28 cm.
Autres titres : IEEE transactions on reliability
Institute of Electrical and Electronics Engineers transactions on reliability
Transactions on reliability
Reliability
Responsabilité : Professional Technical Group on Reliability.

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<http://www.worldcat.org/oclc/1752560>
library:oclcnum"1752560"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
owl:sameAs<info:oclcnum/1752560>
rdf:typeschema:Periodical
rdf:typelibrary:Serial
rdf:typeschema:CreativeWork
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/130455534>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability."
schema:contributor
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/144864037>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"American Society for Quality Control. Electronics Division."
schema:contributor
schema:copyrightYear"1963"
schema:datePublished"1963/9999"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/375916838>
schema:genre"Periodicals."@en
schema:genre"Periodicals"@en
schema:inLanguage"en"
schema:issn"0018-9529"
schema:name"Reliability"@en
schema:name"Transactions on reliability"@en
schema:name"Institute of Electrical and Electronics Engineers transactions on reliability"@en
schema:name"IEEE transactions on reliability"@en
schema:publisher
schema:url
umbel:isLike

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