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IEEE transactions on reliability

著者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability.; IEEE Reliability Group.; IEEE Reliability Society.; American Society for Quality Control. Electronics Division.
出版: [New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, ©1963-
エディション/フォーマット:   ジャーナル・雑誌 : Periodical : Englishすべてのエディションとフォーマットを見る
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ジャンル/形式: Periodicals
Périodiques
その他のフォーマット: IEEE transactions on reliability (Online)
(DLC) 2005214278
(OCoLC)44607842
Online version:
IEEE transactions on reliability
(OCoLC)562213690
Online version:
IEEE transactions on reliability
(OCoLC)606215212
資料の種類: Periodical, インターネット資料
ドキュメントの種類: ジャーナル/雑誌/新聞, インターネットリソース
すべての著者/寄与者: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability.; IEEE Reliability Group.; IEEE Reliability Society.; American Society for Quality Control. Electronics Division.
ISSN:0018-9529
OCLC No.: 1752560
注記: Title from cover.
物理形態: v. : ill. ; 28 cm.
その他のタイトル: IEEE transactions on reliability
Institute of Electrical and Electronics Engineers transactions on reliability
Transactions on reliability
Reliability
責任者: Professional Technical Group on Reliability.

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<http://www.worldcat.org/oclc/1752560>
library:oclcnum"1752560"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
rdf:typeschema:Periodical
rdf:typeschema:MediaObject
rdf:typeschema:CreativeWork
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:alternateName"Transactions on reliability"@en
schema:alternateName"Institute of Electrical and Electronics Engineers transactions on reliability"@en
schema:alternateName"Reliability"@en
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/130455534>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability."
schema:contributor
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/144864037>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"American Society for Quality Control. Electronics Division."
schema:contributor
schema:copyrightYear"1963"
schema:datePublished"1963/9999"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/375916838>
schema:genre"Periodicals"@en
schema:inLanguage"en"
schema:name"IEEE transactions on reliability"@en
schema:publication
schema:publisher
schema:workExample
wdrs:describedby

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