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IEEE transactions on reliability

저자: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability.; IEEE Reliability Group.; IEEE Reliability Society.; American Society for Quality Control. Electronics Division.
출판사: [New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, ©1963-
판/형식:   저널, 잡지 : 정기 간행물 : 영어모든 판과 형식 보기
데이터베이스:WorldCat
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장르/형태: Periodicals
Périodiques
추가적인 물리적 형식: IEEE transactions on reliability (Online)
(DLC) 2005214278
(OCoLC)44607842
Online version:
IEEE transactions on reliability
(OCoLC)562213690
Online version:
IEEE transactions on reliability
(OCoLC)606215212
자료 유형: 정기 간행물, 인터넷 자료
문서 형식: 저널 / 잡지 / 신문, 인터넷 자원
모든 저자 / 참여자: Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability.; IEEE Reliability Group.; IEEE Reliability Society.; American Society for Quality Control. Electronics Division.
ISSN:0018-9529
OCLC 번호: 1752560
메모: Title from cover.
설명: v. : ill. ; 28 cm.
다른 제목 IEEE transactions on reliability
Institute of Electrical and Electronics Engineers transactions on reliability
Transactions on reliability
Reliability
책임: Professional Technical Group on Reliability.

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<http://www.worldcat.org/oclc/1752560>
library:oclcnum"1752560"
library:placeOfPublication
library:placeOfPublication
rdf:typeschema:Periodical
rdf:typeschema:MediaObject
rdf:typeschema:CreativeWork
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:about
schema:alternateName"Transactions on reliability"@en
schema:alternateName"Institute of Electrical and Electronics Engineers transactions on reliability"@en
schema:alternateName"Reliability"@en
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/130455534>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"Institute of Electrical and Electronics Engineers. Professional Technical Group on Reliability."
schema:contributor
schema:contributor
<http://viaf.org/viaf/144864037>
rdf:typeschema:Organization
schema:name"American Society for Quality Control. Electronics Division."
schema:contributor
schema:copyrightYear"1963"
schema:datePublished"1963/9999"
schema:exampleOfWork<http://worldcat.org/entity/work/id/375916838>
schema:genre"Periodicals"@en
schema:inLanguage"en"
schema:name"IEEE transactions on reliability"@en
schema:publication
schema:publisher
schema:workExample
wdrs:describedby

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