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Ion beams in materials processing and analysis

Auteur : Bernd Schmidt; Klaus Wetzig
Éditeur : Vienna ; New York : Springer, ©2013.
Édition/format :   Livre électronique : Document : AnglaisVoir toutes les éditions et tous les formats
Base de données :WorldCat
Résumé :
A comprehensive review of ion beam application in modern materials research is provided, including the basics of ion beam physics and technology. The physics of ion-solid interactions for ion implantation, ion beam synthesis, sputtering and nano-patterning is treated in detail. Its applications in materials research, development and analysis, developments of special techniques and interaction mechanisms of ion beams  Lire la suite...
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Détails

Genre/forme : Electronic books
Type d’ouvrage : Document, Ressource Internet
Format : Ressource Internet, Fichier informatique
Tous les auteurs / collaborateurs : Bernd Schmidt; Klaus Wetzig
ISBN : 9783211993569 3211993568
Numéro OCLC : 823247402
Description : 1 online resource.
Contenu : Introduction --
Ion-Solid Interactions --
Ion Beam Technology --
Materials Processing --
Ion Beam Preparation of Materials --
Materials Analysis by Ion Beams --
Special Ion Beam Applications in Materials Analysis Problems.
Responsabilité : Bernd Schmidt, Klaus Wetzig.

Résumé :

This book covers ion beam application in modern materials research, offering the basics of ion beam physics and technology and a detailed account of the physics of ion-solid interactions for ion  Lire la suite...

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schema:datePublished"2013"
schema:description"A comprehensive review of ion beam application in modern materials research is provided, including the basics of ion beam physics and technology. The physics of ion-solid interactions for ion implantation, ion beam synthesis, sputtering and nano-patterning is treated in detail. Its applications in materials research, development and analysis, developments of special techniques and interaction mechanisms of ion beams with solid state matter result in the optimization of new material properties, which are discussed thoroughly. Solid-state properties optimization for functional materials such as doped semiconductors and metal layers for nano-electronics, metal alloys, and nano-patterned surfaces is demonstrated. The ion beam is an important tool for both materials processing and analysis. Researchers engaged in solid-state physics and materials research, engineers and technologists in the field of modern functional materials will welcome this text."
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