• Citeren/Exporteren
  Citeren/Exporteren

  Citatie kopiëren

  APA (6de ed.)

  

  Chicago (auteur-datum, 15de ed.)

  

  Harvard (18de ed.)

  

  MLA (7de ed.)

  

  Turabian (6de ed.)

  

  Citatie exporteren

  Exporteren naar RefWorks   Exporteren naar EndNote / Reference Manager   Exporteren naar EasyBib
  Exporteren naar EndNote / Referentiebeheer (niet-Latijn)   Annuleren

  Opmerking: Citaties zijn gebaseerd op verwijzigingsstandaarden. De opmaakregels kunnen echter sterk verschillen per toepassing, onderwerp en studiegebied. Men dient de specifieke eisen of voorkeuren van de desbetreffende uitgever, docent, instelling of organisatie te gebruiken.
• Afdrukken
• E-mail
  E-mail

  Alle velden zijn verplicht

  Het veld voor E-mailadres(sen) is verplicht. Vul a.u.b. e-mailadres(sen) van ontvanger in.

  U heeft een of meerdere e-mailadressen ingevuld waarvan de opmaak niet klopt. Vul nogmaals uw e-mailadres(sen) van ontvanger in.

  U kunt dit item naar maximaal vijf ontvangers sturen.

  Graag e-mailadres(sen) van ontvanger invullen: Maximaal vijf adressen scheiden met komma’s (,)

  Het naamveld is verplicht. Vul a.u.b. uw naam in.

  Vul uw naam in: Het onderwerpsveld is verplicht. Vul a.u.b. het onderwerp in. Onderwerp:

  Het veld E-mailbericht is verplicht. Vul a.u.b. een bericht in.

  E-mailbericht: Ik dacht dat u misschien wel interesse zou hebben in dit item op http://www.worldcat.org/oclc/823247402 Titel: Ion beams in materials processing and analysis Auteur: Bernd Schmidt; Klaus Wetzig Uitgever: Vienna ; New York : Springer, ©2013. ISBN/ISSN: 9783211993569 3211993568 OCLC:823247402

  
  

  U heeft niet de juiste controletermen van ReCaptcha ingevuld. Probeer de twee woorden in het venster op dezelfde wijze te typen, of probeer de audioversie.

  Annuleren
• Delen
• Permanente link
  Permanente link

  Kopieer deze URL als link naar deze pagina

• Schrijf een beoordeling
• Waardeer dit item:
• • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

Ion beams in materials processing and analysis

Auteur:	Bernd Schmidt; Klaus Wetzig
Uitgever:	Vienna ; New York : Springer, ©2013.
Editie/Formaat:	eBoek : Document : EngelsAlle edities en materiaalsoorten bekijken.
Samenvatting:	A comprehensive review of ion beam application in modern materials research is provided, including the basics of ion beam physics and technology. The physics of ion-solid interactions for ion implantation, ion beam synthesis, sputtering and nano-patterning is treated in detail. Its applications in materials research, development and analysis, developments of special techniques and interaction mechanisms of ion beams with solid state matter result in the optimization of new material properties, which are discussed thoroughly. Solid-state properties optimization for functional materials such as doped semiconductors and metal layers for nano-electronics, metal alloys, and nano-patterned surfaces is demonstrated. The ion beam is an important tool for both materials processing and analysis. Researchers engaged in solid-state physics and materials research, engineers and technologists in the field of modern functional materials will welcome this text.  Meer lezen...
Beoordeling:	(nog niet beoordeeld) 0 met beoordelingen - U bent de eerste
Onderwerpen	Materials -- Analysis. Ion bombardment -- Industrial applications. Electronics. Alle onderwerpen bekijken
Meer in deze trant	Vergelijkbare items