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  Message  : J’ai pensé que vous seriez peut-être intéressé par cet ouvrage au http://www.worldcat.org/oclc/664271503 Titre: Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications Auteur: S Rein Éditeur: Berlin ; New York : Springer, ©2005. ISBN/ISSN: 3540253033 9783540253037 OCLC:664271503

  
  

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Sujets

• Silicon crystals -- Defects.
• Silicon crystals -- Spectra.
• Semiconductors -- Defects.

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Lifetime spectroscopy : a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications

Auteur :	S Rein
Éditeur :	Berlin ; New York : Springer, ©2005.
Collection :	Springer series in materials science, v. 85.
Édition/format :	Livre électronique : Document : AnglaisVoir toutes les éditions et les formats
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