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A model for electron-beam-induced current analysis of mc-Si addressing defect contrast behavior in heavily contaminated PV material : preprint

저자: Harvey Guthrey; National Renewable Energy Laboratory (U.S.); et al
출판사: [Golden, CO] : National Renewable Energy Laboratory, [2012]
시리즈: Conference paper (National Renewable Energy Laboratory (U.S.)), 5200-54108.
판/형식:   전자도서 : 문서 : 컨퍼런스 간행물 : 국가 정부 간행물 : 영어
데이터베이스:WorldCat
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상세정보

자료 유형: 컨퍼런스 간행물, 문서, 정부 간행물, 국가 정부 간행물, 인터넷 자료
문서 형식: 인터넷 자원, 컴퓨터 파일
모든 저자 / 참여자: Harvey Guthrey; National Renewable Energy Laboratory (U.S.); et al
OCLC 번호: 805582275
메모: Title from title screen (viewed on Aug. 6, 2012).
"June 2012."
"Presented at the 2012 IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Austin, Texas, June 3-8, 2012."
설명: 1 online resource (3 p.) : ill.
일련 제목: Conference paper (National Renewable Energy Laboratory (U.S.)), 5200-54108.
책임: Harvey Guthrey ... [et al.].

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