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Nachweis mesoskopischer elektrischer Inhomogenitäten in undotiertem GaAs mittels Punktkontakt-Verfahren

Author: Carsten Reichel
Dissertation: Techn. Universiẗat, Diss., 2000--Freiberg.
Edition/Format:   Computer file : Thesis/dissertation : GermanView all editions and formats
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Details

Genre/Form: Online-Publikation
Material Type: Thesis/dissertation, Internet resource
Document Type: Internet Resource, Computer File
All Authors / Contributors: Carsten Reichel
OCLC Number: 614477627
Description: Online-Ressource
Responsibility: vorgelegt von Carsten Reichel.

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Primary Entity

<http://www.worldcat.org/oclc/614477627> # Nachweis mesoskopischer elektrischer Inhomogenitäten in undotiertem GaAs mittels Punktkontakt-Verfahren
    a bgn:ComputerFile, bgn:Thesis, schema:CreativeWork ;
   bgn:inSupportOf "Techn. Universiẗat, Diss., 2000--Freiberg." ;
   library:oclcnum "614477627" ;
   schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/punktkontaktspektroskopie> ; # Punktkontaktspektroskopie
   schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/galliumarsenid> ; # Galliumarsenid
   schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/heterogenitat> ; # Heterogenität
   schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/gitterbaufehler> ; # Gitterbaufehler
   schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/elektrische_leitfahigkeit> ; # Elektrische Leitfähigkeit
   schema:author <http://viaf.org/viaf/5828766> ; # Carsten Reichel
   schema:datePublished "2000" ;
   schema:exampleOfWork <http://worldcat.org/entity/work/id/3144726309> ;
   schema:genre "Online-Publikation"@de ;
   schema:inLanguage "de" ;
   schema:name "Nachweis mesoskopischer elektrischer Inhomogenitäten in undotiertem GaAs mittels Punktkontakt-Verfahren"@de ;
   schema:productID "614477627" ;
   schema:url <http://deposit.d-nb.de/cgi-bin/dokserv?idn=961962682> ;
   schema:url <https://fridolin.tu-freiberg.de/archiv/pdf/Physik_ReichelCarsten248079.pdf> ;
   umbel:isLike <http://d-nb.info/961962682> ;
   wdrs:describedby <http://www.worldcat.org/title/-/oclc/614477627> ;
    .


Related Entities

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/elektrische_leitfahigkeit> # Elektrische Leitfähigkeit
    a schema:Intangible ;
   schema:name "Elektrische Leitfähigkeit"@de ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/3144726309#Topic/punktkontaktspektroskopie> # Punktkontaktspektroskopie
    a schema:Intangible ;
   schema:name "Punktkontaktspektroskopie"@de ;
    .

<http://viaf.org/viaf/5828766> # Carsten Reichel
    a schema:Person ;
   schema:familyName "Reichel" ;
   schema:givenName "Carsten" ;
   schema:name "Carsten Reichel" ;
    .

<http://www.worldcat.org/title/-/oclc/614477627>
    a genont:InformationResource, genont:ContentTypeGenericResource ;
   schema:about <http://www.worldcat.org/oclc/614477627> ; # Nachweis mesoskopischer elektrischer Inhomogenitäten in undotiertem GaAs mittels Punktkontakt-Verfahren
   schema:dateModified "2018-03-10" ;
   void:inDataset <http://purl.oclc.org/dataset/WorldCat> ;
    .


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