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Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen : strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen

Author: Hans E Hessel
Publisher: 1992.
Edition/Format:   Print book : GermanView all editions and formats
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Details

Document Type: Book
All Authors / Contributors: Hans E Hessel
OCLC Number: 46172550
Description: 183 Seiten : Illustrationen, Diagramme
Responsibility: von Hans E. Hessel.

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