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Message : J’ai pensé que vous seriez peut-être intéressé par cet ouvrage au http://www.worldcat.org/oclc/663096121 Titre: Sample preparation handbook for transmission electron microscopy : techniques Auteur: Jeanne Ayache Éditeur: New York : Springer, ©2010. ISBN/ISSN: 9781441959744 1441959742 9781441959751 1441959750 OCLC:663096121

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Sample preparation handbook for transmission electron microscopy : techniques

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Sample preparation handbook for transmission electron microscopy : techniques

Auteur :	Jeanne Ayache; et al
Éditeur :	New York : Springer, ©2010.
Édition/format :	Livre électronique : Document : AnglaisVoir toutes les éditions et les formats
Résumé :	This is the second in a two-volume handbook on sample preparation for the transmission electron microscope. It describes 14 different preparation techniques, including 22 detailed protocols for Lire la suite...
Évaluation :	(pas encore évalué) 0 avec des critiques - Soyez le premier.
Sujets	Mounting of microscope specimens -- Handbooks, manuals, etc. Transmission electron microscopy -- Technique. Science. Voir tous les sujets
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Détails

Genre/forme :	Electronic books Handbooks, manuals, etc
Format – détails additionnels :	Print version: Sample preparation handbook for transmission electron microscopy. New York : Springer, c2010 (OCoLC)495781754
Type d’ouvrage :	Document, Ressource Internet
Format :	Ressource Internet, Fichier informatique
Tous les auteurs / collaborateurs :	Jeanne Ayache; et al Trouver plus d’informations sur :
ISBN :	9781441959744 1441959742 9781441959751 1441959750
Numéro OCLC :	663096121
Description :	1 online resource (xxv, 338 p.) : ill.
Contenu :	Note continued: 5.4. Spectroscopic Contrast Imaging Modes in TEM and TEM/STEM -- 5.5. EDS Chemical Analysis Methods in TEM and TEM/STEM -- 5.6. EELS Spectroscopic Analysis Modes in TEM and TEM/STEM -- 6. Conclusion and Information Assessment -- Bibliography -- 4. Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses -- 1. Introduction -- 2. Analyses Conducted Prior to TEM Analyses -- 2.1. Macroscopic Characterization -- 2.2. Microscopic Characterization -- 2.3. Microscopic and Nanoscopic Characterization -- 3. Approach for Beginning the Investigation of a Material -- 4. Selection of the Type of TEM Analysis -- 5. Analysis of Topography -- 6. Structural Analysis in TEM -- 6.1. Morphology and Structure of Materials -- 6.2. Atomic Structure -- 7. Crystallographic Analysis -- 8. Analysis of Crystal Defects: 1D (Dislocations), 2D (Grain Boundaries and Interfaces), and 3D (Precipitates) -- 9. EDS Chemical Analysis and EELS Spectroscopic Analysis -- 9.1. Phase Identification and Distribution -- 9.2. Concentration Profiles and Interface Analysis -- 10. Structural Analyses Under Special Conditions -- 10.1. In Situ Analyses -- 10.2. Cryomicroscopy -- 11. Study of Properties -- 11.1. Optical Properties -- 11.2. Electrical Properties -- 11.3. Electronic Properties -- 11.4. Magnetic Properties -- 11.5. Mechanical Properties -- 11.6. Chemical Properties -- 11.7. Functional Properties -- 12. Relationship Between Sample Thickness and Analysis Type in TEM and TEM/STEM -- 13. Assessment of TEM Analyses -- 5. Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques -- 1. Introduction -- 2. Mechanical Action -- 2.1. Principles of a Material's Mechanical Behavior -- 2.2. Abrasion Principle -- 2.3. Rupture Principles -- 3. Chemical Action -- 3.1. Principle of Chemical and Electrochemical Dissolution -- 4. Ionic Action -- Note continued: 4.1. Ionic Abrasion Principles -- 4.2. Techniques Involving Ion Abrasion -- 5. Actions Resulting in a State Change of Materials Containing an Aqueous Phase -- 5.1. Elimination of the Aqueous Phase -- 5.2. Freezing Principles -- 5.3. Principle of Substitution, Infiltration, and Embedding in Cryogenic Mode -- 5.4. Cryo-sublimation (or Freeze-Drying) Principle -- 6. Actions Resulting in a Change in Material Properties -- 6.1. Chemical Fixation Principles -- 6.2. Dehydration Principles -- 6.3. Infiltration Principles -- 6.4. Embedding or Inclusion Principles -- 6.5. "Positive-Staining" Contrast Principles -- 7. Physical Actions Resulting in Deposition -- 7.1. Physical Deposition -- 7.2. Physics of the Coating Process -- 7.3. Techniques Involving a Physical Deposition: Continuous or Holey Thin Film, Contrast Enhancement by Shadowing or Decoration, Replicas, and Freeze Fracture -- Bibliography -- Mechanical Action -- Chemical Action -- Ionic Action -- Actions Resulting in a State Change of Materials Containing an Aqueous Phase -- Actions Resulting in a Change in Material Properties -- Physical Actions Resulting in a Deposit -- 6. Artifacts in Transmission Electron Microscopy -- 1. Introduction -- 2. Preparation-Induced Artifacts -- 2.1. Mechanical Preparation-Induced Artifacts -- 2.2. Ionic Preparation-Induced Artifacts -- 2.3. Chemical Preparation-Induced Artifacts -- 2.4. Physical Preparation-Induced Artifacts -- 3. Artifacts Induced During TEM Observation -- 3.1. Artifacts Not Linked to Thermal Damages -- 3.2. Secondary Thermal Damage -- 4. Examples of Artifacts -- 4.1. Artifacts Induced by the Tripod Polishing Technique -- 4.2. Artifacts Induced by the Ultramicrotomy Technique -- 4.3. Artifacts Induced by the Freeze-Fracture Technique -- 4.4. Artifacts Induced by Ion Milling or FIB -- Note continued: 4.5. Artifacts Induced by the Substitution-Infiltration-Embedding Technique -- 4.6. Artifacts Induced by Chemical Fixation -- 4.7. Artifacts Induced by the Extractive-Replica Technique -- 4.8. Artifacts Induced by the Shadowing Technique -- 4.9. Artifacts Induced by the "Positive-Staining" Contrast Technique -- 4.10. Artifacts Induced by the Cryofixation Technique -- 4.11. Artifacts Induced by the Fine Particle Dispersion Technique -- 4.12. Artifacts Induced by the Frozen-Hydrated-Film Technique -- 4.13. Artifacts Induced by the "Negative-Staining" Contrast Technique -- 4.14. Artifacts Induced by the Electron Beam -- 5. Summary Tables -- Bibliography -- 7. Selection of Preparation Techniques Based on Material Problems and TEM Analyses -- 1. Introduction -- 2. Classification of Preparation Techniques -- 3. Characteristics of Preparation Techniques -- 4. Criteria Used to Select a Preparation Technique -- 5. Selection Criteria Based on Material Type -- 6. Selection Criteria Based on Material Organization -- 6.1. Bulk Materials -- 6.2. Single-Layer or Multilayer Materials -- 6.3. Fine Particles -- 7. Selection Criteria Based on Material Properties -- 7.1. Based on the Physical State of the Material -- 7.2. Based on the Chemical Phases in the Material -- 7.3. Based on the Electrical Properties of the Material -- 7.4. Based on the Mechanical Properties of the Material -- 8. Selection Criteria Related to the Type of TEM Analysis -- 8.1. Preparation Techniques -- 9. Selection of the Orientation of the Sample Section -- 9.1. Microstructure Geometry -- 9.2. Defect Geometry -- 10. Selection Criteria Related to Artifacts Induced by the Preparation Technique -- 11. Adaptation of the Technique Based on Problems Related to Observation -- 11.1. Reducing Sample Thickness -- 11.2. Increasing Contrast -- 11.3. Reducing Charge Effects -- Note continued: 11.4. Limitation of Strain Hardening -- 11.5. Removal of Surface Amorphization -- 11.6. Removal of Surface Contamination -- 11.7. Final Cleaning of the Thin Slice -- 12. Conclusion -- Bibliography -- 8. Comparisons of Techniques -- 1. Introduction -- 2. Examples Using Fine Particle Materials -- 2.1. Comparison of Mechanical Preparations and Replicas -- 2.2. Comparison of "Negative-Staining" Contrast and Freeze-Fracture Techniques -- 2.3. Comparison of "Negative-Staining" and Decoration-Shadowing Contrast Techniques -- 2.4. Comparison of "Positive-Staining" and Decoration Shadowing Contrast Techniques -- 3. Examples Using Bulk or Multilayer Materials -- 3.1. Comparison Between Different Mechanical Preparations -- 3.2. Comparison Between Mechanical Preparations and Ionic Preparations -- 3.3. Comparison Between Mechanical Preparations and Electrolytic Preparations -- 3.4. Comparison Between Techniques Specific to Biology -- 3.5. Comparison Between All Techniques That Can Be Used in Biology on One Example: Collagen -- Bibliography -- 9. Conclusion: What Is a Good Sample? -- 1. Techniques: General Introduction -- 2. Preliminary Preparation Techniques -- 1. Sawing -- 1.1. Principle -- 1.2. Operating Mode -- 1.3. Variants -- 1.4. Advantages -- 1.5. Limitations -- 1.6. Compatible Techniques -- 1.7. Risks -- 1.8. Conclusion -- 2. Ultrasonic Cutting -- 2.1. Principle -- 2.2. Operating Mode -- 2.3. Variants -- 2.4. Advantages -- 2.5. Limitations -- 2.6. Compatible Techniques -- 2.7. Risks -- 2.8. Conclusion -- 3. Mechanical Polishing -- 3.1. Principle -- 3.2. Operating Mode -- 3.3. Variants -- 3.4. Advantages -- 3.5. Limitations -- 3.6. Compatible Techniques -- 3.7. Risks -- 3.8. Conclusion -- 4. Dimpling -- 4.1. Principle -- 4.2. Operating Mode -- 4.3. Variants -- 4.4. Advantages -- Note continued: 4.5. Limitations -- 4.6. Compatible Techniques -- 4.7. Risks -- 4.8. Conclusion -- 5. Electropolishing -- 5.1. Principle -- 5.2. Operating Mode -- 5.3. Variants -- 5.4. Advantages -- 5.5. Limitations -- 5.6. Compatible Techniques -- 5.7. Risks -- 5.8. Conclusion -- 6. Chemical Polishing -- 6.1. Principle -- 6.2. Operating Mode -- 6.3. Variants -- 6.4. Advantages -- 6.5. Limitations -- 6.6. Compatible Techniques -- 6.7. Risks -- 6.8. Conclusion -- 7. Sandwich Technique -- 7.1. Principle -- 7.2. Operating Mode -- 7.3. Variants -- 7.4. Advantages -- 7.5. Limitations -- 7.6. Compatible Techniques -- 7.7. Risks -- 7.8. Conclusion -- 8. Embedding -- 8.1. Principle -- 8.2. Operating Mode -- 8.3. Variants -- 8.4. Advantages -- 8.5. Limitations -- 8.6. Compatible Techniques -- 8.7. Risks -- 8.8. Conclusion -- 9. Substitution-Infiltration-Embedding at Room Temperature -- 9.1. Principle -- 9.2. Operating Mode -- 9.3. Variants -- 9.4. Advantages -- 9.5. Limitations -- 9.6. Compatible Techniques -- 9.7. Risks -- 9.8. Conclusion -- 10. Substitution-Infiltration-Embedding at Low Temperatures -- 10.1. Principle -- 10.2. Operating Mode -- 10.3. Variants -- 10.4. Advantages -- 10.5. Limitations -- 10.6. Compatible Techniques -- 10.7. Risks -- 10.8. Conclusion -- 11. Chemical Fixation -- 11.1. Principle -- 11.2. Operating Mode -- 11.3. Variants -- 11.4. Advantages -- 11.5. Limitations -- 11.6. Compatible Techniques -- 11.7. Risks -- 11.8. Conclusion -- 12. Physical Fixation: Cryo-fixation -- 12.1. Principle -- 12.2. Operating Mode -- 12.3. Variants -- 12.4. Advantages -- 12.5. Limitations -- 12.6. Compatible Techniques -- 12.7. Risks -- 12.8. Conclusion -- 13. Continuous Support Films -- 13.1. Principle -- Note continued: 13.2. Operating Mode -- 13.3. Variant -- 13.4. Advantages -- 13.5. Limitations -- 13.6. Compatible Techniques -- 13.7. Risks -- 13.8. Conclusion -- 14. Holey Support Films -- 14.1. Principle -- 14.2. Operating Mode -- 14.3. Variant -- 14.4. Advantages -- 14.5. Limitations -- 14.6. Compatible Techniques -- 14.7. Risks -- 14.8. Conclusion -- Bibliography -- 3. Thinning Preparation Techniques -- 1. Twin-Jet Electrolytic Thinning -- 1.1. Principle -- 1.2. Operating Mode -- 1.3. Variants -- 1.4. Advantages -- 1.5. Limitations -- 1.6. Artifacts -- 1.7. Type of Analysis -- 1.8. Risks -- 1.9. Conclusion -- 2. Full-Bath Electrolytic Thinning ("Window Technique") -- 2.1. Principle -- 2.2. Operating Mode -- 2.3. Variants -- 2.4. Advantages -- 2.5. Limitations -- 2.6. Artifacts -- 2.7. Type of Analysis -- 2.8. Risks -- 2.9. Conclusion -- 3. Twin-Jet Chemical Thinning -- 3.1. Principle -- 3.2. Operating Mode -- 3.3. Variants -- 3.4. Advantages -- 3.5. Limitations -- 3.6. Artifacts -- 3.7. Type of Analysis -- 3.8. Risks -- 3.9. Conclusion -- 4. Full-Bath Chemical Thinning ("Window Technique") -- 4.1. Principle -- 4.2. Operating Mode -- 4.3. Variants -- 4.4. Advantages -- 4.5. Limitations -- 4.6. Artifacts -- 4.7. Type of Analysis -- 4.8. Risks -- 4.9. Conclusion -- 5. Ion Milling -- 5.1. Principle -- 5.2. Operating Mode -- 5.3. Variants -- 5.4. Advantages -- 5.5. Limitations -- 5.6. Artifacts -- 5.7. Type of Analysis -- 5.8. Risks -- 5.9. Conclusion -- 6. Focused Ion Beam Thinning (FIB) -- 6.1. Principle -- 6.2. Operating Mode -- 6.3. Variants -- 6.4. Advantages -- 6.5. Limitations -- 6.6. Artifacts -- 6.7. Type of Analysis -- 6.8. Risks -- 6.9. Conclusion -- Bibliography -- 4. Mechanical Preparation Techniques -- Note continued: 1. Crushing -- 1.1. Principle -- 1.2. Operating Mode -- 1.3. Variants -- 1.4. Advantages -- 1.5. Limitations -- 1.6. Artifacts -- 1.7. Type of Analysis -- 1.8. Risks -- 1.9. Conclusion -- 2. Wedge Cleavage -- 2.1. Principle -- 2.2. Operating Mode -- 2.3. Variants -- 2.4. Advantages -- 2.5. Limitations -- 2.6. Artifacts -- 2.7. Type of Analysis -- 2.8. Risks -- 2.9. Conclusion -- 3. Tripod Polishing -- 3.1. Principle -- 3.2. Operating Mode -- 3.3. Variants -- 3.4. Advantages -- 3.5. Limitations -- 3.6. Artifacts -- 3.7. Type of Analysis -- 3.8. Risks -- 3.9. Conclusion -- 4. Ultramicrotomy -- 4.1. Principle -- 4.2. Operating Mode -- 4.3. Variants -- 4.4. Advantages -- 4.5. Limitations -- 4.6. Artifacts -- 4.7. Type of Analysis -- 4.8. Risks -- 4.9. Conclusion -- 5. Cryo-ultramicrotomy -- 5.1. Principle -- 5.2. Operating Mode -- 5.3. Variants -- 5.4. Advantage -- 5.5. Limitations -- 5.6. Artifacts -- 5.7. Type of Analysis -- 5.8. Risks -- 5.9. Conclusion -- Bibliography -- 5. Replica Techniques -- 1. Direct Replica Technique -- 1.1. Principle -- 1.2. Operating Mode -- 1.3. Variants -- 1.4. Advantages -- 1.5. Limitations -- 1.6. Artifacts -- 1.7. Type of Analysis -- 1.8. Risks -- 1.9. Conclusion -- 2. Indirect Replica -- 2.1. Principle -- 2.2. Operating Mode -- 2.3. Variants -- 2.4. Advantages -- 2.5. Limitations -- 2.6. Artifacts -- 2.7. Type of Analysis -- 2.8. Risks -- 2.9. Conclusion -- 3. Extractive Replica -- 3.1. Principle -- 3.2. Operating Mode -- 3.3. Variants -- 3.4. Advantages -- 3.5. Limitations -- 3.6. Artifacts -- 3.7. Type of Analysis -- 3.8. Risks -- 3.9. Conclusion -- 4. Freeze Fracture -- 4.1. Principle -- 4.2. Operating Mode -- 4.3. Variants -- 4.4. Advantages -- Note continued: 4.5. Limitations -- 4.6. Artifacts -- 4.7. Type of Analysis -- 4.8. Risks -- 4.9. Conclusion -- Bibliography -- 6. Techniques Specific to Fine Particles -- 1. Dispersion of Fine Particle Materials -- 1.1. Principle -- 1.2. Operating Mode -- 1.3. Variants -- 1.4. Advantages -- 1.5. Limitations -- 1.6. Artifacts -- 1.7. Type of Analysis -- 1.8. Risks -- 1.9. Conclusion -- 2. Frozen Hydrated Film of Single Particles -- 2.1. Principle -- 2.2. Operating Mode -- 2.3. Variants -- 2.4. Advantages -- 2.5. Limitations -- 2.6. Artifacts -- 2.7. Type of Analysis -- 2.8. Risks -- 2.9. Conclusion -- Bibliography -- 7. Contrast Enhancement and Labeling Techniques -- 1. Decoration Shadowing -- 1.1. Principle -- 1.2. Operating Mode -- 1.3. Variants -- 1.4. Advantages -- 1.5. Limitations -- 1.6. Artifacts -- 1.7. Type of Analysis -- 1.8. Risks -- 1.9. Conclusion -- 2. Negative Staining -- 2.1. Principle -- 2.2. Operating Mode -- 2.3. Variants -- 2.4. Advantages -- 2.5. Limitations -- 2.6. Artifacts -- 2.7. Type of Analysis -- 2.8. Risks -- 2.9. Conclusion -- 3. Positive Staining -- 3.1. Principle -- 3.2. Operating Mode -- 3.3. Variants -- 3.4. Advantages -- 3.5. Limitations -- 3.6. Artifacts -- 3.7. Type of Analysis -- 3.8. Risks -- 3.9. Conclusion -- 4. Immunolabeling -- 4.1. Principle -- 4.2. Operating Mode -- 4.3. Variants -- 4.4. Advantages -- 4.5. Limitations -- 4.6. Artifacts -- 4.7. Type of Analysis -- 4.8. Risks -- 4.9. Conclusion -- Bibliography.
Responsabilité :	Jeanne Ayache ... [et al.] ; foreword by Ron Anderson.

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Synopsis de l’éditeur

From the reviews: "This textbook is the combined result ... of four French microscopists and one Swiss microscopist who use similar TEM techniques for the study of quite different specimens; this Lire la suite...

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