přejít na obsah
Scanning probe microscopy : analytical methods Náhled dokumentu
ZavřítNáhled dokumentu
Ověřování...

Scanning probe microscopy : analytical methods

Autor R Wiesendanger
Vydavatel: Berlin ; New York : Springer-Verlag, ©1998.
Edice: Nanoscience and technology.
Vydání/formát:   Tištěná kniha : EnglishZobrazit všechny vydání a formáty
Shrnutí:

Scanning Probe Microscopy - Analytical Methods provides a comprehensive overview of the analytical methods on the nanometer scale based on scanning probe microscopy and spectroscopy.

Hodnocení:

(ještě nehodnoceno) 0 zobrazit recenze - Buďte první.

Předmětová hesla:
Více podobných

Vyhledat exemplář v knihovně

&AllPage.SpinnerRetrieving; Vyhledávání knihoven, které vlastní tento dokument...

Detaily

Typ materiálu: Internetový zdroj
Typ dokumentu Kniha, Internetový zdroj
Všichni autoři/tvůrci: R Wiesendanger
ISBN: 3540638156 9783540638155
OCLC číslo: 38048402
Popis: xi, 216 pages : illustrations (some color) ; 25 cm.
Obsahy: Chemical information from scanning probe microscopy and spectroscopy / T.A. Jung [and others] --
Thermovoltages in scanning tunneling microscopy / R. Möller --
Spin-polarized scanning tunneling microscopy / R. Wiesendanger --
Photo emission from the scanning tunneling microscope / R. Berndt --
Laser scanning tunneling microscope / M. Völcker --
Scanning near-field optical microscopy / C. Fischer.
Název edice: Nanoscience and technology.
Odpovědnost: Roland Wiesendanger (ed.).
Více informací

Recenze

Recenze vložené uživatelem
Nahrávání recenzí GoodReads...
Přebírání recenzí DOGO books...

Štítky

Buďte první.
Potvrdit tento požadavek

Tento dokument jste si již vyžádali. Prosím vyberte Ok pokud chcete přesto v žádance pokračovat.

Propojená data


Primary Entity

<http://www.worldcat.org/oclc/38048402> # Scanning probe microscopy : analytical methods
    a schema:Book, schema:CreativeWork ;
    library:oclcnum "38048402" ;
    library:placeOfPublication <http://id.loc.gov/vocabulary/countries/gw> ;
    library:placeOfPublication <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Place/berlin> ; # Berlin
    library:placeOfPublication <http://dbpedia.org/resource/New_York_City> ; # New York
    schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/microscopie_a_sonde_a_balayage> ; # Microscopie à sonde à balayage
    schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/oppervlakken> ; # Oppervlakken
    schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/rastersondenmikroskopie> ; # Rastersondenmikroskopie
    schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/scanning_tunneling_microscopy> ; # Scanning tunneling microscopy
    schema:about <http://dewey.info/class/502.82/e21/> ;
    schema:about <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/materiaalonderzoek> ; # Materiaalonderzoek
    schema:about <http://id.worldcat.org/fast/1106485> ; # Scanning probe microscopy
    schema:bookFormat bgn:PrintBook ;
    schema:contributor <http://viaf.org/viaf/112515169> ; # Roland Wiesendanger
    schema:copyrightYear "1998" ;
    schema:datePublished "1998" ;
    schema:description "Chemical information from scanning probe microscopy and spectroscopy / T.A. Jung [and others] -- Thermovoltages in scanning tunneling microscopy / R. Möller -- Spin-polarized scanning tunneling microscopy / R. Wiesendanger -- Photo emission from the scanning tunneling microscope / R. Berndt -- Laser scanning tunneling microscope / M. Völcker -- Scanning near-field optical microscopy / C. Fischer."@en ;
    schema:exampleOfWork <http://worldcat.org/entity/work/id/795114400> ;
    schema:inLanguage "en" ;
    schema:isPartOf <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Series/nanoscience_and_technology> ; # Nanoscience and technology.
    schema:name "Scanning probe microscopy : analytical methods"@en ;
    schema:productID "38048402" ;
    schema:publication <http://www.worldcat.org/title/-/oclc/38048402#PublicationEvent/berlin_new_york_springer_verlag_1998> ;
    schema:publisher <http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Agent/springer_verlag> ; # Springer-Verlag
    schema:url <http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0815/97048773-t.html> ;
    schema:workExample <http://worldcat.org/isbn/9783540638155> ;
    umbel:isLike <http://d-nb.info/95217393X> ;
    umbel:isLike <http://bnb.data.bl.uk/id/resource/GB9874068> ;
    wdrs:describedby <http://www.worldcat.org/title/-/oclc/38048402> ;
    .


Related Entities

<http://dbpedia.org/resource/New_York_City> # New York
    a schema:Place ;
    schema:name "New York" ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Agent/springer_verlag> # Springer-Verlag
    a bgn:Agent ;
    schema:name "Springer-Verlag" ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Series/nanoscience_and_technology> # Nanoscience and technology.
    a bgn:PublicationSeries ;
    schema:hasPart <http://www.worldcat.org/oclc/38048402> ; # Scanning probe microscopy : analytical methods
    schema:name "Nanoscience and technology." ;
    schema:name "Nanoscience and technology" ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/materiaalonderzoek> # Materiaalonderzoek
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Materiaalonderzoek"@en ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/microscopie_a_sonde_a_balayage> # Microscopie à sonde à balayage
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Microscopie à sonde à balayage"@en ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/rastersondenmikroskopie> # Rastersondenmikroskopie
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Rastersondenmikroskopie"@en ;
    .

<http://experiment.worldcat.org/entity/work/data/795114400#Topic/scanning_tunneling_microscopy> # Scanning tunneling microscopy
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Scanning tunneling microscopy"@en ;
    .

<http://id.worldcat.org/fast/1106485> # Scanning probe microscopy
    a schema:Intangible ;
    schema:name "Scanning probe microscopy"@en ;
    .

<http://viaf.org/viaf/112515169> # Roland Wiesendanger
    a schema:Person ;
    schema:birthDate "1961" ;
    schema:familyName "Wiesendanger" ;
    schema:givenName "Roland" ;
    schema:givenName "R." ;
    schema:name "Roland Wiesendanger" ;
    .

<http://worldcat.org/isbn/9783540638155>
    a schema:ProductModel ;
    schema:isbn "3540638156" ;
    schema:isbn "9783540638155" ;
    .


Content-negotiable representations

Zavřít okno

Prosím přihlaste se do WorldCat 

Nemáte účet? Můžete si jednoduše vytvořit bezplatný účet.