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  Message  : J’ai pensé que vous seriez peut-être intéressé par cet ouvrage au http://www.worldcat.org/oclc/19352667 Titre: Stereology and morphometry in electron microscopy Auteur: Albrecht Reith; Terry M Mayhew Éditeur: Hemisphere, ©1988. ISBN/ISSN: 0891166238 9780891166238 OCLC:19352667

  
  

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Sujets

• Electron microscopy -- Stereology
• Electron microscopy -- Technique.
• Stereology.

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Stereology and morphometry in electron microscopy

Auteur :	Albrecht Reith; Terry M Mayhew
Éditeur :	Hemisphere, ©1988.
Collection :	Ultrastructural pathology publication series.
Édition/format :	Livre : Anglais
Évaluation :	(pas encore évalué) 0 avec des critiques - Soyez le premier.