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X-ray and neutron reflectivity : principles and applications
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X-ray and neutron reflectivity : principles and applications

Auteur : J Daillant; Alain Gibaud
Éditeur : Berlin : Springer, ©2009.
Collection : Lecture notes in physics, 770.
Édition/format :   Livre : Anglais : 2nd edVoir toutes les éditions et les formats
Résumé :

This book presents a comprehensive introduction to X -ray and neutron reflectivity techniques and illustrates them with many examples. For the second edition, all chapters have been thoroughly  Lire la suite...

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Détails

Type d’ouvrage : Ressource Internet
Format : Livre, Ressource Internet
Tous les auteurs / collaborateurs : J Daillant; Alain Gibaud
ISBN : 9783540885870 3540885870
Numéro OCLC : 262894233
Notes : Previous ed.: 1999.
Description : xiv, 348 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
Contenu : Interaction of X-rays (and Neutrons) with Matter.- Statistical Aspects of Wave Scattering at Rough Surfaces.- Specular Reflectivity From Smooth and Rough Surfaces.- Diffuse Scattering.- Neutron Reflectometry.- X-ray Reflectivity by Rough Multilayers.- Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering from Nanostructures.- Index.
Titre de collection : Lecture notes in physics, 770.
Responsabilité : J. Daillant, A. Gibaud (eds.).

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