• Cite/Export
  Cite/Export

  Copy a citation

  APA (6th ed.)

  

  Chicago (Author-Date, 15th ed.)

  

  Harvard (18th ed.)

  

  MLA (7th ed.)

  

  Turabian (6th ed.)

  

  Export a citation

  Export to RefWorks   Export to EndNote / Reference Manager   Export to EasyBib
  Export to EndNote / Reference Manager(non-Latin)   Cancel

  Note: Citations are based on reference standards. However, formatting rules can vary widely between applications and fields of interest or study. The specific requirements or preferences of your reviewing publisher, classroom teacher, institution or organization should be applied.
• Print
• E-mail
  E-mail

  All fields are required.

  The E-mail Address(es) field is required. Please enter recipient e-mail address(es).

  The E-mail Address(es) you entered is(are) not in a valid format. Please re-enter recipient e-mail address(es).

  You may send this item to up to five recipients.

  Enter recipient e-mail address(es): Separate up to five addresses with commas (,)

  The name field is required. Please enter your name.

  Enter your name: The subject field is required. Please enter the subject. Subject:

  The E-mail message field is required. Please enter the message.

  E-mail Message: I thought you might be interested in this item at http://www.worldcat.org/oclc/1101611074 Title: Caractérisation hyperfréquence sous pointes de nano-dispositifs : métrologie et instrumentation Author: Khadim Daffé; Gilles Dambrine; Kamel Haddadi; Université Lille 1 - Sciences et technologies (Villeneuve-d'Ascq / 1970-2017); École doctorale Sciences pour l'Ingénieur (Lille); Institut d'électronique, de microélectronique et de nanotechnologie (1992-....) Publisher: 2018. OCLC:1101611074

  
  

  Please verify that you are not a robot.

  Cancel
• Share
• Permalink
  Permalink

  Copy this URL to link to this page:

• Write a review
• Rate this item:
• • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

Caractérisation hyperfréquence sous pointes de nano-dispositifs : métrologie et instrumentation

Author:	Khadim Daffé; Gilles Dambrine; Kamel Haddadi; Université Lille 1 - Sciences et technologies (Villeneuve-d'Ascq / 1970-2017).; École doctorale Sciences pour l'Ingénieur (Lille).; All authors
Publisher:	2018.
Dissertation:	Thèse de doctorat : Électronique,Microélectronique, Nanoélectronique etMicro-ondes : Lille 1 : 2018.
Edition/Format:	Computer file : Document : Thesis/dissertation : French
Summary:	Dans un contexte de développement spectaculaire des nano-objets, il est nécessaire de développer des moyens de caractérisation électrique haute fréquence sous pointes adaptés aux petites échelles. En particulier, deux verrous instrumentaux doivent être levés. D'une part, la principale difficulté pour caractériser des nano-composants est qu'ils présentent en régime dynamique de fortes valeurs d'impédances comparativement à celles des systèmes de mesure hyperfréquence usuels. D'autre part, Il existe une discontinuité de taille entre les nano-objets et les systèmes de mesure conventionnels. Compte tenu du challenge scientifique et d'un état de l'art relativement limité, plusieurs voies ont été explorées de concert. En premier lieu, dans le cadre d'un projet européen regroupant les acteurs de la métrologie, et du laboratoire commun IEMN-STMicroelectronics®, la traçabilité des mesures hautes impédances de nano-dispositifs est établie. Par ailleurs, il s'agit de développement de nouvelles générations de sondes GSG (Ground-Signal-Ground) en technologie MEMS (Microelectromechanical systems), miniaturisées et adaptées à la taille des nano-dispositifs. Les sondes sont montées sur une plateforme de nano-positionnement robotisée et intégrée dans un microscope électronique à balayage. In the frame of the spectacular development of nano-objects, innovative on-wafer electrical measurement methods must be addressed at the nanoscale. In particular, two main issues have been identified. On one hand, nano-devices exhibit very high dynamic impedance in contrast with conventional measuring microwave instruments. On the other hand, there is an inherent size discontinuity between nano-objects and conventional measurement systems. Given the scientific challenge and a relatively limited state of the art, several avenues of investigation have been explored. First, as part of a European project bringing together metrology laboratories, and the joint laboratory IEMN-STMicroelectronics®, the traceability of nano-devices high impedance measurements is established. In a second step, the development of an electrical on-wafer measuring platform for nano-devices is described. This includes the development of new generations of GSG (Ground-Signal-Ground) miniaturized probes in MEMS (Microelectromechanical systems) technology with reduced access pads. The probes are mounted on a robotic nano-positioning platform integrated in a scanning electron microscope.  Read more...
Rating:	(not yet rated) 0 with reviews - Be the first.
Subjects	Nanotechnologie. Ondes millimétriques -- Mesure. Incertitude de mesure. View all subjects
More like this	Similar Items