Contribution à la caractérisation des structures rayonnantes. Application aux études en champ proche de rayonnement électromagnétique (Computer file, 2013) [WorldCat.org]
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Contribution à la caractérisation des structures rayonnantes. Application aux études en champ proche de rayonnement électromagnétique
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Contribution à la caractérisation des structures rayonnantes. Application aux études en champ proche de rayonnement électromagnétique

Author: Adnan Saghir; Junwu Tao; Institut national polytechnique (Toulouse / 1969-....).; École doctorale Génie électrique, électronique et télécommunications (Toulouse).
Publisher: 2014.
Dissertation: Thèse de doctorat : Micro-ondes, Électromagnétisme et Optoélectronique : Toulouse, INPT : 2013.
Edition/Format:   Computer file : Document : Thesis/dissertation : French
Summary:
La connaissance précise des champs électromagnétiques rayonnés par les dispositifs hyperfréquences nécessite des outils instrumentaux permettant la mesure directe ou indirecte de ces champs. La technique du scan champ proche fait partie de ces outils. Ce manuscrit décrit les travaux de caractérisation des sondes électromagnétiques pour une plate-forme de scan champ proche développée au laboratoire
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Details

Genre/Form: Thèses et écrits académiques
Material Type: Document, Thesis/dissertation, Internet resource
Document Type: Internet Resource, Computer File
All Authors / Contributors: Adnan Saghir; Junwu Tao; Institut national polytechnique (Toulouse / 1969-....).; École doctorale Génie électrique, électronique et télécommunications (Toulouse).
OCLC Number: 876426894
Notes: L'impression du document donne 121 p.
Titre provenant de l'écran-titre.
Description: 1 online resource
Responsibility: Adnan Saghir ; sous la direction de Junwu Tao.

Abstract:

La connaissance précise des champs électromagnétiques rayonnés par les dispositifs hyperfréquences nécessite des outils instrumentaux permettant la mesure directe ou indirecte de ces champs. La technique du scan champ proche fait partie de ces outils. Ce manuscrit décrit les travaux de caractérisation des sondes électromagnétiques pour une plate-forme de scan champ proche développée au laboratoire LAPLACE. L'accent a été mis sur la simulation électromagnétique des dispositifs de test utilisés dans le travail de déconvolution du facteur d'antenne des sondes de champs magnétiques ou électriques. Ces dispositifs comprennent aussi bien des structures planaires telles que des interconnexions en ligne microruban que des composants en guide d'ondes tels que des guides ouverts de formes rectangulaire ou circulaire. Pour analyser ces structures des logiciels commerciaux basés sur la méthode des différences finis ont été utilisés. Dans le cas des structures rayonnantes un programme basé sur la méthode de l'opérateur transverse a été développé, permettant la détermination de l'admittance de rayonnement et les champs rayonnés en zones proche et lointaine. Les résultats obtenus ont été validés par des simulations avec des outils commerciaux, et par des mesures réalisés au laboratoire.

The accurate knowledge of electromagnetic fields radiated by microwave devices requires instrumental tools for direct or indirect measurement of these fields. Near-field scan technique is one of those tools. This manuscript describes the work done to characterize electromagnetic probes using a near field scan platform developed in the laboratory LAPLACE. We focused our work on the electromagnetic simulation of test devices that are used in the deconvolution of antenna factor of magnetic or electric probes. These devices include both planar structures such as microstrip line and also waveguide components such as rectangular or circular open-ended waveguides. To analyze these structures, commercial software based on finite element method was used. In case of radiating structures, a program based on transverse operator method was developed. It allows the determination of the admittance of radiation and the radiated electromagnetic fields in near-field and far-field regions. The results were validated by simulations with commercial tools, and measurements made in the laboratory.

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