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Surface and interface analysis : SIA : an international journal devoted to the development and application of techniques for the analysis of surfaces, interfaces and thin films.

Éditeur: Chichester Wiley
Édition/format:   Périodique, revue : Périodique   Fichier d'ordinateur : AnglaisVoir toutes les éditions et tous les formats
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Détails

Genre/forme: Zeitschrift
Type d’ouvrage: Périodique, Ressource Internet
Type de document: Périodique / revue / journal, Fichier d'ordinateur, Ressource Internet
ISSN:1096-9918, 0142-2421
Numéro OCLC: 973882456
Notes: Ursprünglicher Impressum: London: Heyden.
Description: Online-Ressource
Autres titres: SIA

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